[发明专利]以目标来监控生产过程质量的方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种质量监控方法，它是以目标来监控生产过程质量的方法，以达到或接近即目标状态。特别适用于无法保证生产过程稳定或批量较小情况下的质量监控，也可用于质量分析及改进效果验证。

背景技术

(1)波动图

波动图适用于质量控制中观察与分析质量特性值达标和波动状况，以便控制和改进质量。它具有结构简单、直接的特点，但它是一种粗放性的质量监控工具。

(2)常规控制图

控制图的原理为小概率事件原理。它具有使用范围广、灵敏度高，但实施过程复杂、工作量大，要准备数据，判定是否处于统计过程控制状态和技术稳态，并且对控制线要定期维护，其信息量仍有欠缺，因此无法在非统计过程控制状态和技术稳态或批量较小的情况下使用。

发明内容

本发明的目的在于对无法保证生产过程稳定或批量较小情况下的质量监控，提出了一种以目标来监控生产过程质量的方法。

本发明的技术方案是：一种以目标来监控生产过程质量的方法，包括如下步骤：

①根据客户技术要求确定生产质量目标，即目标质量特性值的上限T_U、下限T_L，

②选择工序性能指数P_PK；

③建立目标监控图，该图为直角坐标系，其横轴为时间轴，竖轴为质量特性值轴；

该目标监控图包括指示线部分和目标分布曲线，目标分布曲线位于坐标系的左侧；

所述的指示线有六条横线，包括上、下规格线(也称合格线)，在最外侧；上、下警戒线(也称一等品线，在次外侧)、上、下优等品线，在规格中心线两侧；规格中心线；上述指示线通过将目标宽度，即目标质量特性值的上限T_U、下限T_L之间六等分得来；

规格线，上规格线T_U、下规格线T_L，

警戒线，上警戒线下警戒线

优等品线，上优等品线下优等品线

规格中心线，

所述目标分布曲线根据目标质量特性值上下限(T_U、T_L)和选择的工序性能指数P_PK来建立；

理想状态(即目标状态)下，质量特性值平均值与质量特性值上下限中心重合，由工序性能指数公式：式中P_PK为工序性能指数，S为样本标准偏差，工序性能指数确定，可计算出要求的样品标准偏差，用样本标准偏差S估计总体标准偏差σ，由于理想状态遵循正态分布，由正态分布概率密度函数：-∞＜x＜∞(式中均值μ等于目标质量特性值上下限中心，即)，划出目标分布曲线；

④根据在一段时间内实际测定的生产质量特性值在上述目标监控图中打点、制作点连接线、平均值游标和生产质量特性值实际分布曲线，

a.对于实验室按照时间顺序定期抽样测定的数据，直接将生产质量特性值在直角坐标系中打点；对于在线仪器测定的连续数据，计算四分位数，划箱线图把一段时间数据的信息表示出来；

b.用折线将坐标系的点或箱线的中位数连接起来连接起来形成点连接线；

c.计算动态平均值，同时用短线在坐标系中表示出来形成平均值游标；

d.统计并画出生产质量特性值实际分布曲线；

将生产质量特性值的上限、下限等分成若干个区间；

计算测得的质量特性值在各个区间出现的频数N；

计算各频数之和M；

计算各个区间出现的频数N的百分影响量W，

以各个区间的中心点特性值为纵坐标，W为横坐标，在坐标系中划出实际分布曲线；

⑤判断目标实现的效果

a.定性目标效果：

通过视力识别生产质量特性值实际分布曲线与目标分布曲线的符合性，确定目标实现效果；

b.定量目标效果：

通过计算目标符合度确定目标实现效果；

目标符合度＝目标质量特性值上下限内各区间对应的频数百分影响量W与对应系数相乘结果之和-目标质量特性值上下限外各区间对应的频数百分影响量之和+正态分布情况下工序性能指数P_PK所对应的不合格率；

下表为归一化处理后的目标质量特性值上下限内各区间所对应系数；

系数*p(x)列之和等于100

所述的生产目标做归一化处理，以下限为0，上限为1，然后六等分；

归一化处理公式：其中X为需归一化的变量；