[发明专利]测量液晶空间光调制器gamma曲线的方法及系统

权利要求书

1.一种测量液晶空间光调制器gamma曲线的方法，其特征在于，包括以下步骤：

在液晶空间光调制器里写入图像，图像包括主显示区和位于主显示区域两侧的两个辅助显示区，主显示区包含第一标准灰度信息，辅助显示区包含第二标准灰度信息；

液晶空间光调制器过滤第二标准灰度信息并将第一标准灰度信息转换为测试灰度信息并输出到光电传感器；

对光电传感器获取的测试灰度信息进行归一化处理，利用归一化结果绘制gamma曲线。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一标准灰度信息和所述第二标准灰度信息都包含多个标准灰度值，所述第一标准灰度信息所包含的标准灰度值的个数多于所述第二标准灰度值信息所包含的标准灰度值的个数。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述图像的标准灰度值包含在一个256*n的二维矩阵中，每行灰度值以0-255顺序连续递增，其中，n为自然数。

4.根据权利要求2或3所述的方法，其特征在于，所述对测试灰度信息进行归一化处理，利用归一化后的结果绘制gamma曲线的步骤包括：

确定与所述测试灰度信息中的每个测试灰度值对应的标准灰度值；

将测试灰度值除以对应的标准灰度值，将其结果作为纵坐标，将标准灰度值作为横坐标建立坐标系，绘制gamma曲线。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述确定与所述测试灰度值对应的标准灰度值的具体步骤为：

确定写入液晶空间光调制器的标准灰度值的最大值X；

确定光电传感器接收的测试灰度值的个数Y，所述测试灰度值的个数Y等于光电传感器接收的第一个非零的测试灰度值至最后一个非零的测试灰度值的个数加1；

根据X和Y计算标准灰度值之间的间隔值Z，Z＝X/(Y-1)；

根据间隔值Z计算对应于测试灰度值的标准灰度值An，An＝Z*m，m为大于等于0且小于Y的整数。

6.一种测量液晶空间光调制器gamma曲线的系统，其特征在于，包括沿光路依序设置的光源、液晶空间光调制器和光电传感器，所述光源输出光束经过所述液晶空间光调制器进入所述光电传感器，所述光电传感器用于接收液晶空间光调制器输出的测试灰度信息。

7.根据权利要求6所述的系统，其特征在于，所述系统的液晶空间光调制器与光源之间设有扩大光束直径的扩束镜，所述光电传感器与液晶空间光调制器之间设有用于会聚光束的凸透镜。

8.根据权利要求6或7所述的系统，其特征在于，所述液晶空间光调制器与光源之间设置有前偏振片，所述系统的光电传感器与液晶空间光调制器之间设置有后偏振片。

9.根据权利要求8所述的系统，其特征在于，所述液晶空间光调制器与所述前偏振片之间设置有前半波片，所述液晶空间光调制器与所述后偏振片之间设置有后半波片，所述光源与所述前偏振片之间设置有衰减片和外半波片，外半波片位于衰减片与前偏振片之间。

10.根据权利要求9所述的系统，其特征在于，所述光电传感器为电荷耦合元件CCD。