[发明专利]一种高温老化测试仪及其恒温控制方法

说明书

技术领域

本发明属于电子测试领域，尤其涉及一种高温老化测试仪及其恒温控制方 法。

背景技术

老化测试是模拟产品在现实使用条件中涉及到的各种因素对产品产生老化 的情况进行相应条件加强实验的过程，通过老化测试可了解产品在特定条件下 使用时的老化情况，通过老化测试合格的产品可确保其可靠度和寿命周期，对 提高产品的质量有重要帮助。老化测试仪是各种老化试验中常用的设备之一， 广泛应用于电子、电脑、通讯等产品的测试。

目前的老化测试设备中高温老化测试仪多种多样，高温老化测试仪采用温 度控制电路对加热器进行加热，目前的高温老化测试仪的金属箱内温度与目标 温度相比，存在温度漂移大、误差大的问题，另外，由于高温老化测试仪没有 设置测试上电接口，所以目前的高温老化测试仪无法采集并分析被测产品在高 温测试下的运行参数。

发明内容

本发明的目的在于提供一种高温老化测试仪，旨在解决现在的高温老化测 试仪存在温度漂移大、误差大的问题，并且目前的高温老化测试仪存在无法采 集并分析被测产品在高温测试下的运行参数的问题。

本发明是这样实现的，一种高温老化测试仪，包括金属箱，所述金属箱内 设置有为被测产品供电的测试上电接口；所述高温老化测试仪还包括采集分析 被测产品运行参数的测试模块，所述高温老化测试仪还包括温度控制电路，所 述温度控制电路包括：

电源端接电源模块的加热器；

设定目标温度的温度设定模块；

检测金属箱环境温度的温度传感器；

第一输入端和第二输入端分别接温度设定模块和温度传感器，将所述金属 箱环境温度与目标温度进行比较，输出比较结果信号的温度比较模块；以及

输入端接所述温度比较模块的比较结果输出端，加热控制端接加热器的控 制端，用于根据所述比较结果信号，控制所述加热器，使得金属箱环境温度与 目标温度同步的温度控制模块。

本发明的另一目的在于提供一种如上所述的高温老化测试仪的恒温控制方 法，所述恒温控制方法包括如下步骤：

步骤一、设定目标温度；

步骤二、所述温度比较模块将采样温度与设定目标温度作比较，并将比较 结果发送到所述温度控制模块；

步骤三、当采样温度高于设定目标温度时，所述温度控制模块输出低电平 驱动信号关闭所述MOS管，所述加热器停止加热，当采样温度低于设定目标 温度时，所述温度控制模块输出高电平驱动信号打开所述MOS管，所述加热 器正常加热；

步骤四、如果所述采样温度与设定目标温度不一致时，返回执行步骤二， 如果所述采样温度与设定目标温度一致时，则结束。

在本发明中，高温老化测试仪的温度控制模块通过判断金属箱环境温度是 否与目标温度一致，从而控制加热器的加热情况，使得金属箱环境温度与目标 温度同步，减小了温度漂移和误差，并且设定温度范围广，连续可调；另外， 由于高温老化测试仪设置有测试上电接口，所以高温老化测试仪可以采集并分 析被测产品在高温测试下的运行参数，使得测试人员更好地了解被测产品在高 温测试下的运行情况。

附图说明

图1是本发明第一实施例提供的高温老化测试仪的结构图；

图2是本发明实施例提供的温度控制电路的模块结构图；

图3是本发明实施例提供的温度控制电路的电路结构图；

图4是本发明第二实施例提供的高温老化测试仪的结构图；

图5是本发明实施例提供的如上所述的高温老化测试仪的恒温控制方法的 流程图。

具体实施方式

为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实 施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅 仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。

图1示出了本发明第一实施例提供的高温老化测试仪的结构，为了便于说 明，仅示出了与本发明实施例相关的部分，详述如下。

高温老化测试仪1包括金属箱101，金属箱101内设置有为被测产品供电 的测试上电接口102；高温老化测试仪1还包括采集分析被测产品运行参数的 测试模块103，在本发明实施例中，测试模块103外置金属箱101，高温老化测 试仪1还包括温度控制电路(图中未示出)。