[发明专利]一种高温老化测试仪及其恒温控制方法

权利要求书

1.一种高温老化测试仪，包括金属箱，其特征在于，所述金属箱内设置有 为被测产品供电的测试上电接口；所述高温老化测试仪还包括采集分析被测产 品运行参数的测试模块，所述高温老化测试仪还包括温度控制电路，所述温度 控制电路包括：

电源端接电源模块的加热器；

设定目标温度的温度设定模块；

检测金属箱环境温度的温度传感器；

第一输入端和第二输入端分别接温度设定模块和温度传感器，将所述金属 箱环境温度与目标温度进行比较，输出比较结果信号的温度比较模块；以及

输入端接所述温度比较模块的比较结果输出端，加热控制端接加热器的控 制端，用于根据所述比较结果信号，控制所述加热器，使得金属箱环境温度与 目标温度同步的温度控制模块。

2.如权利要求1所述的高温老化测试仪，其特征在于，所述温度控制电路 还包括与所述温度控制模块的报警控制端连接的报警模块。

3.如权利要求1所述的高温老化测试仪，其特征在于，所述温度设定模块 包括一可变电阻R25，所述可变电阻R25的第一端接参考电压，所述可变电阻 R25的第二端接地，所述可变电阻R25的调节端接温度比较模块的第一输入端。

4.如权利要求1所述的高温老化测试仪，其特征在于，所述温度比较模块 包括：

运算放大器U1、运算放大器U2、电阻R24、电阻R26、电阻R27、电阻 R28、电阻R30、电阻R31和电容C6；

所述电阻R26和电阻R27的第一端分别为温度比较模块的第二输入端，所 述电阻R26和电阻R27的第二端分别接运算放大器U2的同相输入端和反相输 入端，所述运算放大器U2的同相输入端通过电阻R30接地，所述电阻R28连 接在运算放大器U2的反相输入端和输出端之间，所述运算放大器U2的输出端 通过电容C6接地，所述运算放大器U1的反相输入端通过电阻R31接运算放大 器U2的输出端，所述运算放大器U1的同相输入端为温度比较模块的第一输入 端，所述运算放大器U1的输出端接电阻R24的第一端，所述电阻R24的第二 端为温度比较模块的比较结果输出端。

5.如权利要求1所述的高温老化测试仪，其特征在于，所述温度控制模块 包括：

电阻R19、电阻R21、电阻R22、电阻R23、MOS管M1、电容C1、电容 C2、二极管D2和控制芯片U3；

所述控制芯片U3的控制端为所述温度控制模块的输入端，所述电容C1和 二极管D2并联在控制芯片U3的控制端与地之间，所述控制芯片U3的重置锁 定端通过串接的电阻R19和电阻R21接电源，所述控制芯片U3的放电端接电 阻R19和电阻R21的公共连接端，所述控制芯片U3的电源端接电源，所述控 制芯片U3的重置端通过电阻R22接电源，所述控制芯片U3的输出端通过电 阻R23接MOS管M1的栅极，所述控制芯片U3的触发点端接重置锁定端，所 述控制芯片U3的接地端接地，所述电容C2连接在控制芯片U3的接地端和触 发点端之间，所述MOS管M1的源极接地，所述MOS管M1的漏极为温度控 制模块的加热控制端。

6.如权利要求1所述的高温老化测试仪，其特征在于，所述金属箱的内壁 设置一层做隔热用的硅胶发泡板，所述硅胶发泡板上还设置一层隔热棉，所述 金属箱内设置至少一个可抽拉金属板，所述可抽拉金属板上至少安装一个测试 上电接口，所述加热器安装在隔热棉之上，所述测试模块外置所述金属箱。

7.如权利要求1所述的高温老化测试仪，其特征在于，所述金属箱的内壁 设置一层做隔热用的硅胶发泡板，所述金属箱内还设置一隔板，所述隔板将金 属箱分为上空间和下空间，所述上空间作为发热空间，所述下空间放置所述测 试模块，所述上空间的硅胶发泡板上还设置一层隔热棉，所述上空间内设置至 少一个可抽拉金属板，所述可抽拉金属板上至少安装一个测试上电接口，所述 加热器安装在隔热棉之上。

8.如权利要求1、6或7所述的高温老化测试仪，其特征在于，所述测试 上电接口采用USB转接头。