[发明专利]液晶显示装置及其测试方法

说明书

技术领域

本发明涉及显示装置领域，特别是涉及一种液晶显示装置及其测试方法。

背景技术

液晶显示装置具有由矩阵状的显示像素构成的有效显示区域，该有效显示区域具有沿显示像素的行方向延伸的多条扫描线以及沿所述显示像素的列方向延伸的多条数据线。在这些扫描线与数据线的相交部分设置有开关元件以及与所述开关元件连接的像素电极，所述开关元件例如是薄膜晶体管(开关元件)，所述开关元件能够响应提供给每条扫描线的信号并将来自数据线的信号发送给对应的每个像素电极。这些扫描线和数据线引出到有效显示区域的外围部分(例如将引出的扫描线和数据线与驱动电路连接)，通过在外围部分输入测试信号来检测有效显示区域所显示出来画面的品质。这些扫描线、数据线以及其它的电路连接线通常统称为信号线。

由于随着显示像素的增加，在有效显示区域及其外围部分的扫描线和数据线等各种信号线的线宽越来越细，而且间隔越来越小，因此断线、短路等各种布线不良的情况也越来越多。因此，为了及时发现布线不良的情况，防止大规模不良发生以及不良品流入下一工序造成材料的浪费，在布线之后需要对扫描线、数据线以及其它的信号线进行检查，从而判断是否存在布线不良的情况。

目前，常用的一种液晶显示装置的检测方法是利用若干短路棒(Shorting bar)分别将各信号线短路连接在一起，并在所述短路棒上输入测试信号，再通过相应的元件将所述测试信号传输到有效显示区域的扫描线及数据线上，进而检测有效显示区域所显示出来画面的品质。

具体请参考图1，其为现有技术中一种液晶显示装置的结构示意图。所述液晶显示装置包括四条短路棒101、102、103、104，与四条短路棒101、102、103、104连接的测试端子101a、102a、103a、104a，六条数据线D11、D12、D13、D14、D15、D16，六条连接线C1、C2、C3、C4、C5、C6，三条扫描线G11、G12、G13，薄膜晶体管(TFT)105、106，过孔107、108，以及开关控制线109。

其中，数据线D11、D14为红色信号数据线，数据线D12、D15为绿色信号数据线，数据线D13、D16为蓝色信号数据线。所述数据线D11、D12、D13、D14、D15、D16分别通过开关元件105与连接线C1、C2、C3、C4、C5、C6电连接，所述连接线C1、C2、C3、C4、C5、C6通过过孔107和连接金属(未图示)与短路棒101、102、103电连接。同理，所述扫描线G11、G12、G13通过过孔108和连接金属(未图示)与第一连接线C7-1、C8-1、C9-1电连接，第一连接线C7-1、C8-1、C9-1与第二连接线C7-2、C8-2、C9-2均与开关控制线109相交，其交点处形成有开关元件106，从而使扫描线G11、G12、G13通过过孔108、连接金属、第一连接线C7-1、C8-1、C9-1、第二连接线C7-2、C8-2、C9-2以及开关元件106与短路棒104电连接。

通常来说，短路棒101、102、103与连接线C1、C2、C3、C4、C5、C6一般位于不同的电路层(不是在同一步骤中形成)，因此短路棒需要通过过孔107与连接线电连接。详细的，所述过孔107包括过孔107-1和107-2，例如，短路棒101的过孔107-1与连接线C4的过孔107-2通过连接金属(未图示)电连接，从而使短路棒101与数据线D14连接，其它短路棒和连接线的连接方式也与此类似。所述连接金属一般为氧化铟锡(ITO)或者氧化铟锌(IZO)。通过测试端子101a、102a、103a、104a加上测试信号，即可进行电性测试。

然而，现有技术的液晶显示装置具有以下缺点：

首先，在液晶显示装置的制造工艺过程中，例如阵列工艺取放玻璃、对盒工艺的取向膜涂布以及取向膜摩擦等工序中，经常会由于静电过大的原因将过孔107处的ITO或IZO烧毁，这种过孔缺陷不仅使短路棒的防静电功能失效，而且使得电性测试不能进行，就会认为阵列基板出现不良现象，为避免阵列基板流入到下一制造流程可能导致材料的浪费，因此产品会做报废处理；

并且，由于每一条数据线对应一条连接线，导致所述数据线D11、D12、D13、D14、D15、D16以及连接线C1、C2、C3、C4、C5、C6占用了较大的面积，不利于减小测试信号控制部分所占的尺寸；此外，与开关控制线109交叠的数据线较多，导致开关元件的开关的信号延迟。

发明内容