[发明专利]基于电子束激励脱附的纳电子器件和/或电路的制作方法有效

专利信息
申请号: 201110092302.2 申请日: 2011-04-13
公开(公告)号: CN102249175A 公开(公告)日: 2011-11-23
发明(设计)人: 陈学康;王兰喜;郭磊;吴敢;杨建平;曹生珠;王瑞;尚凯文;王晓毅;韦波 申请(专利权)人: 中国航天科技集团公司第五研究院第五一○研究所
主分类号: B81B3/00 分类号: B81B3/00;B82Y40/00
代理公司: 甘肃省知识产权事务中心 62100 代理人: 马英
地址: 730000 甘*** 国省代码: 甘肃;62
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 基于 电子束 激励 电子器件 电路 制作方法
【权利要求书】:

1.一种基于电子束激励脱附的纳电子器件和/或电路的制作方法,其特征在于:

   (1)使用电子束激励脱附原理对化学吸附石墨烯的吸附原子进行选区脱附,按设计意图形成脱附图案,在此基础上实现纳电子器件和/或电路;

   (2)利用脱附/未脱附区域边界不存在侧向物理表面的特点,形成基于选区脱附原理的没有表面电荷复合和电荷俘获的侧向限制势垒;

其具体步骤为:

(1)制备悬空石墨烯薄膜或石墨烯/低散射的基底样品;

(2)对(1)中所述的石墨烯进行化学吸附;

(3)对(2)中所述的化学吸附石墨烯表面按设计好的纳电子器件和/或电路的图案进行电子束扫描,调整电子束流强度和扫描次数使扫描区域的吸附原子完全脱附并还原到石墨烯的原始状态,形成纳电子器件和/或电路。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国航天科技集团公司第五研究院第五一○研究所,未经中国航天科技集团公司第五研究院第五一○研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201110092302.2/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top