[发明专利]一种红外玻璃内部宏观缺陷检测装置

说明书

技术领域

本发明涉及一种玻璃检测设备，尤其是涉及一种红外玻璃内部宏观缺陷检测装置。

背景技术

红外玻璃具有良好的红外光学性能，如玻璃组分易调节，透过光谱范围宽，折射率与锗单晶相差较大，容易与锗镜片构成消色差透镜组等优点，因此在军事、民用方面的应用范围越来越广泛，对红外玻璃材料的质量的要求也日益提高。玻璃内部宏观缺陷（如条纹、裂纹、析晶、分相、气泡等）成为决定红外玻璃质量的关键指标之一，一般来说宏观缺陷主要是由玻璃熔制工艺中玻璃液化学组分的不均匀性，以及凝固成形过程中引起的热不均匀性造成的。

目前国内公开的一些玻璃内部缺陷检测装置及方法专利和文献，用于红外玻璃检测往往存在一些问题。如采用光学干涉检测方法，其装置显得比较复杂，而且玻璃窗口的污染，实验系统的振动，光学仪器的缺陷，以及照明光源亮度的不均匀等都会引入噪声，操作也不方便。而且红外玻璃工作在近红外至中远红外波段，波长较长，用于红外成像则允许红外波长限度的非均匀性存在，采用精度极高的干涉测量方法并不十分适宜。又如一些专利或者文献采用可见光源对可见光玻璃的内部缺陷进行检测，这种方法用于红外玻璃的内部缺陷检测也存在问题，因为对很多不透可见光的红外玻璃来说，可见光源无法照出这些红外玻璃的内部缺陷。

综上所述，目前国内缺乏用于红外玻璃内部宏观缺陷的检测装置。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是提供一种结构简单、成本低的红外玻璃内部宏观缺陷检测装置。

本发明解决上述技术问题所采用的技术方案为：一种红外玻璃内部缺陷检测装置，包括可调电源、红外光源、圆管、透红外平板毛玻璃、红外透镜、红外面阵成像探测器、图像处理模块和显示器，所述的红外光源、圆管、透红外平板毛玻璃、红外镜头和红外面阵成像探测器依次排列，被测红外玻璃样品置放在透红外平板毛玻璃与红外镜头之间，所述的圆管内壁呈黑色，所述的圆管内壁有能消除杂光的螺纹，所述的圆管的内径                                                与被测红外玻璃样品的直径之比为，所述的圆管的长度L与圆管的内径之比为，所述的红外光源、红外透镜和红外面阵成像探测器共一个光轴，所述的可调电源给所述的红外光源供电，所述的红外面阵成像探测器与所述的图象处理模块连接，所述的图像处理模块与所述的显示器连接。

包括一个用于固定被测红外玻璃样品的夹持架，所述的夹持架为五维调整架。

所述的红外面阵成像探测器为用于红外成像的红外CMOS或红外CCD。

所述的红外光源与所述的红外面阵成像探测器具有共同的红外波段，且该共同的红外波段的光可以透过被测红外玻璃样品。

所述的红外光源为卤素灯或红外LED等。

与现有技术相比，优点在于本发明采用透射成像的方法，结构简单、成本低廉，操作快捷方便，能够检测几毫米至几十毫米直径的红外玻璃内部缺陷，对玻璃的厚度尺寸变化适应性强，能够快速地拍摄出玻璃内部缺陷图像。

附图说明

图1为本发明的结构图；

图2为典型的表面抛光的红外玻璃外观（人眼看不出任何内部缺陷）；

图3为本发明拍摄的红外玻璃内部裂纹图像；

图4为本发明拍摄的红外玻璃内部条纹图像；

图5为本发明拍摄的红外玻璃内部存在严重析晶、分相、全失透（不透红外光）的图像；

图6为本发明拍摄的红外玻璃内部存在部分析晶的图像。

具体实施方式

以下结合附图实施例对本发明作进一步详细描述。

一种红外玻璃内部宏观缺陷检测装置，包括可调电源1、红外光源2、圆管3、透红外平板毛玻璃4、红外透镜6、红外面阵成像探测器7、图像处理模块8和显示器9，红外光源2、圆管3、透红外平板毛玻璃4、红外镜头6和红外面阵成像探测器7依次排列，被测红外玻璃样品5置放在透红外平板毛玻璃4与红外镜头6之间，圆管2内壁呈黑色，圆管2内壁设置有能消除杂光的螺纹，圆管3的内径与被测红外玻璃样品5的直径之比为，圆管2的长度L与圆管的内径之比为，红外光源2、红外透镜6和红外面阵成像探测器7共一个光轴10，可调电源1给红外光源2供电，红外面阵成像探测器7与图象处理模块8连接，图像处理模块8与显示器9连接。

包括一个用于固定被测红外玻璃样品5的夹持架11，夹持架11为五维调整架11。

红外面阵成像探测器7为用于红外成像的红外CMOS或红外CCD。

红外光源2与红外面阵成像探测器7具有共同的红外波段，且该共同的红外波段的光可以透过被测红外玻璃样品5。