[发明专利]一种红外玻璃内部宏观缺陷检测装置

权利要求书

1.一种红外玻璃内部宏观缺陷检测装置，其特征在于包括可调电源、红外光源、圆管、透红外平板毛玻璃、红外透镜、红外面阵成像探测器、图像处理模块和显示器，所述的红外光源、圆管、透红外平板毛玻璃、红外镜头和红外面阵成像探测器依次排列，被测红外玻璃样品置放在透红外平板毛玻璃与红外镜头之间，所述的圆管内壁呈黑色，所述的圆管内壁设置有能消除杂光的螺纹，所述的圆管的内径                                               与被测红外玻璃样品的直径之比为，所述的圆管的长度L与圆管的内径之比为，所述的红外光源、红外透镜和红外面阵成像探测器共一个光轴，所述的可调电源给所述的红外光源供电，所述的红外面阵成像探测器与所述的图象处理模块连接，所述的图像处理模块与所述的显示器连接。

2.根据权利要求1所述的一种红外玻璃内部宏观缺陷检测装置，其特征在于包括一个用于固定被测红外玻璃样品的夹持架，所述的夹持架为五维调整架。

3.根据权利要求1所述的一种红外玻璃内部宏观缺陷检测装置，其特征在于所述的红外面阵成像探测器为用于红外成像的红外CMOS或红外CCD。

4.根据权利要求1所述的一种红外玻璃内部宏观缺陷检测装置，其特征在于所述的红外光源与所述的红外面阵成像探测器具有共同的红外波段，且该共同的红外波段的光可以透过被测红外玻璃样品。

5.根据权利要求1所述的一种红外玻璃内部宏观缺陷检测装置，其特征在于所述的红外光源为卤素灯或红外LED。