[发明专利]光电子系统的测量仪器的校准方法

权利要求书

1.一种用于校准运动中的光电子系统的测量仪器的方法，其中该光电子系统具有位置P₁、P₂、……、P_i、……，该光电子系统包括：

-用于获取包括固定对象G₀的现场图像的器件（10），以及

-用于在所述图像获取期间对所述固定对象G₀进行跟踪的装置（15），

-用于获取位置P₁、P₂、……的装置（20），

-至少一个用于测量距离的仪器（25）和/或用于根据瞄准线LdV测量所述测量仪器与所述固定对象G₀之间的定向角和/或空间方位角的仪器（30），

其特征在于，其包括与以下步骤：

-在时刻t₁、t₂、……获取至少两个图像，每一个图像基于不同的系统位置P₁、P₂、……来获取，所述固定对象G₀在每一个图像中被瞄准，但其位置未知，

-在时刻t′₁、t′₂、……获取距离和/或角度的测量，

-使时刻t₁、t₂、……所确定的位置为P₁、P₂、……的距离和/或角度测量同步，

-估计测量缺陷，其根据所述测量和系统的已知位置P_i、P_j使位置P_i处的LdV与位置P_j处的LdV之间的至少两个交叉点G_ij的分散最小化。

2.根据前述权利要求所述的校准方法，其特征在于，G₀位于图像的中心。

3.根据前述权利要求中的任一项所述的校准方法，其特征在于，单个校准测量仪器是用于测量定向角和/或空间方位角的仪器，并且所述测量基于至少三个不同位置P₁、P₂、P₃来获取。

4.根据前述权利要求中的任一项所述的校准方法，其特征在于，单个校准测量仪器为遥测器，并且所述测量基于至少两个不同的位置来获取。

5.根据前述权利要求中的任一项所述的校准方法，其特征在于，至少一个固定对象G₁能够在至少两个图像上观察到，所述校准方法还包括在具有固定对象G₀、G₁的每一个图像中进行匹配的步骤，此外计算测量缺陷的步骤根据图像获取器件内的预定特征来执行。

6.根据前述权利要求中的任一项所述的校准方法，其特征在于，其包括优化测量条件的步骤，其基于针对对象G₀的已知位置对传感器最佳轨迹的确定，或者基于对有利于搜索对象G₀的区域的确定。

7.根据前述权利要求中任一项所述的校准方法，其特征在于，其包括基于校准测量计算G₀和可选的其它固定对象的地理位置的步骤。

8.根据权利要求1至6中任一项所述的校准方法，其特征在于，其包括指向固定对象G₀的步骤。

9.根据前述权利要求中任一项所述的校准方法，其特征在于，其还包括以下步骤，即将被估计缺陷应用于所述距离测量仪器（25）和/或用于测量定向角和/或空间方位角的仪器（30）以便从被校正测量中受益。

10.一种能够移动的光电子系统，其包括：

-用于获取包括固定对象G₀的现场图像的器件（10），以及

-用于在所述图像获取期间跟踪所述固定对象G₀的装置（15），

-用于获取位置P₁、P₂、……的装置（20），

-至少一个用于测量距离的仪器（25）和/或至少一个用于根据瞄准线（LdV）测量所述测量仪器与所述固定对象G₀之间的定向角和/或空间方位角的仪器（30），

其特征在于，该系统包括用于执行前述权利要求中的任一项所述的方法的装置（40）。