[发明专利]连续制造液晶显示元件的方法及装置有效

专利信息
申请号: 201080058629.1 申请日: 2010-12-22
公开(公告)号: CN102695981A 公开(公告)日: 2012-09-26
发明(设计)人: 秦和也;平田聪;近藤诚司 申请(专利权)人: 日东电工株式会社
主分类号: G02F1/13 分类号: G02F1/13;G02F1/1335
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 岳雪兰
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 连续 制造 液晶显示 元件 方法 装置
【说明书】:

技术领域

本发明涉及一种连续制造液晶显示面板的方法及装置。更详细地说,对连续制造液晶显示面板的方法及装置而言,仅将偏光膜薄片中的正常薄片输送至与矩形面板贴合的贴合位置,使正常薄片与矩形面板的位置对准地连续贴合,从而连续制造液晶显示面板,该偏光膜薄片由形成于带状膜层积体的载体膜上的包含粘接层的偏光膜的不含疵点的正常薄片和含有疵点的不良薄片构成,该带状膜层积体包含:含有粘接层的偏光膜以及剥离自如地层积于该粘接层的载体膜。

背景技术

专利文献1及2已经公开了,通过仅将偏光膜的不含疵点的正常薄片与矩形面板连续地贴合而连续制造液晶显示面板的方法及装置,该偏光膜包含粘接层。

在专利文献1中公开了以下内容。参照图14。首先,在供给用于液晶显示元件的带状膜层积体2的光学膜供给装置100中,该带状膜层积体2包含:含有粘接层的偏光膜Y;剥离自如地层积于该粘接层的载体膜Z,带状膜层积体2的卷筒101安装于输送装置1,通过判定工位A的信息读取装置3计算带状膜层积体2的供给量,并且读取由事先检查而检测出的偏光膜Y的疵点位置。接着,在切断工位B,在供给的带状膜层积体2的载体膜Z上,基于读取的偏光膜Y的疵点位置信息,形成由不含疵点的正常薄片Xα和含有疵点的不良薄片Xβ构成的偏光膜薄片X。在最终工序的贴合工位D,仅将形成的偏光膜薄片X中判定为正常薄片Xα的偏光膜薄片从载体膜Z剥离,并且将其连续地贴合于与正常薄片Xα同步输送的液晶面板W。而且,在到达最终工序前,在排除工位C(1)或排除工位C(2),将形成的偏光膜薄片X中判定为不良薄片Xβ的偏光膜薄片从载体膜Z剥离,并且经由其他路径从带状膜层积体2排除。由此,连续制造液晶显示元件。

在专利文献2中公开了以下内容。参照图15。首先,在供给带有切割线的带状膜层积体2′的光学膜供给装置100′中,该带有切割线的带状膜层积体2′使偏光膜薄片X预先形成在载体膜Z上,该偏光膜薄片X由基于疵点位置信息而判断的不含疵点的正常薄片Xα和含有疵点的不良薄片Xβ构成,该疵点位置信息是通过事先检查而检测出的包含粘接层的偏光膜Y内在的疵点位置信息,带状膜层积体2′的卷筒101′安装于输送装置1′,供给包含利用从带状膜层积体2′的输送方向观察而处于下游侧与上游侧的宽度方向的切割线预先形成的偏光膜薄片X的带状膜层积体2′。因此,该光学膜供给装置100′不需要切断工位B。该光学膜供给装置100′设置有包含代替图14的信息读取装置3来判定偏光膜薄片X的正常薄片Xα与不良薄片Xβ的判定装置3′的判定工位A′,于是,在判定工位A′判定偏光膜薄片X是正常薄片Xα还是不良薄片Xβ。在这方面,专利文献1及专利文献2分别公开的带状膜层积体2、2′不同。专利文献2所示的贴合工位D与排除工位C(1)或排除工位C(2)都与专利文献1所示的相同。即,在最终工序的贴合工位D,将偏光膜薄片X中判定为正常薄片Xα的偏光膜薄片从载体膜Z剥离,并且将其连续地贴合于与正常薄片Xα同步输送的液晶面板W。而且,在达到最终工序前,在排除工位C(1)或排除工位C(2),将偏光膜薄片X中判定为不良薄片Xβ的偏光膜薄片从载体膜Z剥离,并且经由其他路径从带状膜层积体2′排除。由此,连续制造液晶显示元件。

本发明的技术问题内含于专利文献1及2内。从使本发明的技术问题的解决方案明了的观点来看,主要使用图14,对专利文献1所示的液晶显示元件的连续制造装置的整体控制进行概括地说明,特别是,对内含于从载体膜Z剥离不良薄片Xβ并且使其经由其他路径从带状膜层积体2排除的排除工位C(1)或排除工位C(2)的技术问题进行详细说明。

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