[发明专利]一种快闪存储器件及控制方法有效

专利信息
申请号: 201080052625.2 申请日: 2010-09-23
公开(公告)号: CN102640227A 公开(公告)日: 2012-08-15
发明(设计)人: 康纳·莫里斯·赖安;约瑟夫·沙利文 申请(专利权)人: 国家数字研究中心有限公司
主分类号: G11C16/20 分类号: G11C16/20;G11C16/34;G11C11/56
代理公司: 北京安信方达知识产权代理有限公司 11262 代理人: 苏蕾;李冬梅
地址: 爱尔兰*** 国省代码: 爱尔兰;IE
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摘要:
搜索关键词: 一种 闪存 器件 控制 方法
【权利要求书】:

1.一种提高快闪存储器件的操作效率的方法,其中,该方法包括在该快闪存储器件的寿命期内调整该快闪存储器件的一个操作参数的步骤。

2.如权利要求1所述的提高快闪存储器件的操作效率的方法,其中,保存在一个决定快闪存储器件的一个操作参数的控制寄存器中的值在该快闪存储器件的寿命期内受到调整。

3.如权利要求1所述的提高快闪存储器件的操作效率的方法,其中,该快闪存储器件的操作参数在该快闪存储器件的寿命期内的多种情况下受到调整。

4.如权利要求1所述的提高快闪存储器件的操作效率的方法,其中,保存在该控制寄存器中的值在该快闪存储器件的寿命期内的多种情况下受到调整。

5.如权利要求2或4所述的提高快闪存储器件的操作效率的方法,其中,保存在该控制寄存器中的值在该快闪存储器件的寿命期内得到提高。

6.如任意以上权利要求所述的提高快闪存储器件的操作效率的方法,其中,该方法进一步包括在制造阶段内通过从多套不同的操作参数中基于对快闪存储器件进行测试来选择一套最佳操作参数对快闪存储器件进行校准的步骤。

7.如权利要求6所述的提高快闪存储器件的操作效率的方法,其中,校准快闪存储器件步骤中的测试是在制造阶段内在该快闪存储器件内一个或更多个预先指定的坏块上执行的。

8.如任意以上权利要求所述的提高快闪存储器件的操作效率的方法,其中,该方法进一步包括跟踪该快闪存储器件的操作时间并响应于所跟踪的快闪存储器件的操作时间来调整该快闪存储器件的一个操作参数的步骤。

9.如任意以上权利要求所述的提高快闪存储器件的操作效率的方法,其中,该方法进一步包括分析预定时间段内由该快闪存储器件所执行的操作的类型并响应于该分析而调整该快闪存储器件的一个操作参数的步骤。

10.如任意以上权利要求所述的提高快闪存储器件的操作效率的方法,其中,该方法是通过将该快闪存储器件置于测试模式下以校准、调整和/或适配该快闪存储器件的一个操作参数来执行的。

11.如任意以上权利要求所述的提高快闪存储器件的操作效率的方法,其中,该方法进一步包括分析一具体批次的快闪存储器件以确定完美地适用于该特定批次的快闪存储器件的多个操作参数。

12.如任意以上权利要求所述的提高快闪存储器件的操作效率的方法,其中,该方法进一步包括修改一个操作参数以在该快闪存储器件的寿命期内调整该快闪存储器件中的逻辑电平的一个或多个门限。

13.一种快闪存储器件,该快闪存储器件包括一个存储块阵列和一个控制器,其中,该控制器用于管理对该存储块阵列的写入和擦除操作;由此,该控制器包括一个操作参数管理单元,该单元用于在快闪存储器件的寿命期内改变快闪存储器件中的存储块的一个操作参数。

14.一种快闪存储器件,其中保存在一个控制寄存器中的决定快闪存储器件的操作参数的一个值在该快闪存储器件的寿命期内受到调整。

15.如权利要求13所述的快闪存储器件,其中,该快闪存储器件的操作参数在该快闪存储器件的寿命期内的多种情况下受到调整。

16.如权利要求14所述的快闪存储器件,其中,保存在该控制寄存器中的值在该快闪存储器件的寿命期内的多种情况下受到调整。

17.如权利要求14或16所述的快闪存储器件,其中,保存在该控制寄存器中的值在该快闪存储器件的寿命期内得到提高。

18.如权利要求13至17中任意一项所述的快闪存储器件,其中,在制造过程中通过从多套不同的操作参数中基于对快闪存储器件进行测试来选择一套最佳操作参数来校准该快闪存储器件。

19.如权利要求18所述的快闪存储器件,其中,该快闪存储器件的测试是在该快闪存储器件内一个或更多个预先指定的坏块上执行的。

20.如权利要求13至19中任意一项所述的快闪存储器件,其中,该控制器跟踪快闪存储器件的一个操作时间并响应于所跟踪的该快闪存储器件的操作时间来调整该快闪存储器件的一个操作参数。

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