[发明专利]用于所选组织结构的图像分析的方法及系统

权利要求书

1.一种用于分析样本的方法，所述样本包括具有通常意义上不同的密度的第一材料和第二材料，且所述第一材料与所述第二材料之间具有结合部，所述方法包括：

在包括所述结合部的所述样本的至少一部分的横截面图像中限定感兴趣区域；

确定在所述感兴趣区域内并穿过所述结合部的所述样本的密度分布；

确定所述第二材料的代表性密度；以及

使用用来区分所述第一材料和所述第二材料的所述结合部来分析所述样本。

2.根据权利要求1所述的方法，其中，根据所述密度分布来确定所述第二材料的代表性密度。

3.根据权利要求1所述的方法，还包括在所述密度分布中定位所述第一材料与所述第二材料之间的所述结合部。

4.根据权利要求3所述的方法，还包括使用相对于适当地选择的点的距离函数来在所述密度分布中定位所述第一材料与所述第二材料之间的所述结合部。

5.根据权利要求3所述的方法，其中，在所述密度分布中定位所述结合部包括：在所述密度分布中定位距参考点最近的点，所述参考点具有与所述第一材料的代表性密度相同的位置以及相似于或低于所述第二材料的代表性密度的密度。

6.根据权利要求5所述的方法，其中，定位所述结合部包括：在密度分布内以(x_i，y_i)＝(0，o)为中心的参考帧中找到表达式的最小值，或者在所述密度分布内以(x_i，y_i)＝(0，0)为中心的参考帧中找到表达式的最大值。

7.根据权利要求3所述的方法，其中，定位所述结合部包括：在所述感兴趣区域的部分中定位密度分布变化率最大点，所述部分由所述密度差最大点划界并且包括所述第二材料，或者，在所述感兴趣区域的部分中定位密度分布变化率最小点，所述部分由所述密度差最大点划界并且包括所述第二材料。

8.根据权利要求3所述的方法，其中，定位所述结合部包括：在所述密度分布中定位拐点，或形成所述密度分布的一个或更多个部分的二阶导数。

9.根据权利要求1所述的方法，还包括确定所述第一材料的构造。

10.根据权利要求1所述的方法，其中，所述样本包括骨。

11.根据权利要求1所述的方法，包括检测所述第一材料中的衰变或异常。

12.根据权利要求1所述的方法，包括识别易骨折的骨。

13.根据权利要求1所述的方法，其中，所述感兴趣区域包括位于所述第一材料与所述样本的包括所述第二材料、第三材料或空穴的另外一部分之间的至少一个另外的结合部，并且所述方法还包括：

确定所述另外一部分的代表性密度；以及

在由所述密度最大点划界并且包括所述另外一部分的所述感兴趣区域的部分中，在所述密度分布中定位另外的结合部。

14.根据权利要求13所述的方法，包括通过仅使用所述样本的、在所述密度分布中的所述结合部与所述密度分布中的所述另外的结合部之间的部分来进一步分析所述第一材料。

15.根据权利要求13所述的方法，其中，在所述密度分布中定位所述另外的结合部包括：在所述密度分布中定位距另外的参考点最近的点，所述另外的参考点具有与密度差最大点相同的位置以及与所述另外一部分的所述代表性密度相同的密度。

16.根据权利要求1所述的方法，包括通过调节所述感兴趣区域的位置来优化由密度分布分析器在确定所述密度分布时使用的所选择的感兴趣区域的位置。

17.根据权利要求1所述的方法，包括合并多个感兴趣区域。

18.根据权利要求1所述的方法，包括识别所述密度分布中的一个或更多个拐点，或通过识别所述密度分布中的一个或更多个拐点来限定所述样本内的多个隔室。