[发明专利]具有校准装置的光学距离测量设备有效
| 申请号: | 201080044801.8 | 申请日: | 2010-09-20 |
| 公开(公告)号: | CN102656423A | 公开(公告)日: | 2012-09-05 |
| 发明(设计)人: | A.艾塞勒;O.沃尔斯特;B.施米特克 | 申请(专利权)人: | 罗伯特·博世有限公司 |
| 主分类号: | G01C15/00 | 分类号: | G01C15/00;G01C25/00;G01S17/36;G01S17/32;G01S7/497 |
| 代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 李少丹;李家麟 |
| 地址: | 德国斯*** | 国省代码: | 德国;DE |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 具有 校准 装置 光学 距离 测量 设备 | ||
1.用于光学距离测量的测量装置(10),尤其手持的测量装置,具有:
发送装置(12),以把周期调制的光学测量射线(13)发送到目标对象(15);
接收装置(14),以探测从目标对象(15)返回的光学测量射线(16);以及
分析装置(36),以接收并分析该接收装置(14)的探测信号;
校准装置(80),以校准该测量装置(10);
其中该校准装置(80)设计用于根据不相关射线的探测来校准该分析装置(36),其中该不相关射线与该发送装置所发送的调制测量射线不相关。
2.根据权利要求1所述的测量装置,
其中该周期调制的测量射线的一个周期被划分为多个子周期;
其中该分析装置(36)设计用于,对在预定子周期上由该接收装置(12)所接收的探测信号进行累加;
其中该校准装置(80)设计用于根据未调制射线的探测来校准子周期的长度。
3.根据权利要求1或2所述的测量装置,
其中该校准装置(80)设计用于根据未调制射线的探测来校准该分析装置(36)。
4.根据权利要求1、2或3所述的测量装置,
其中该校准装置(80)设计用于根据背景射线的探测来校准该分析装置(36)。
5.根据权利要求1至4之一所述的测量装置,
其中该发送装置(12)另外还设计用于发送不相关的测量射线;
其中该校准装置(80)设计用于根据不相关测量射线的探测来校准该分析装置(36)。
6.根据权利要求5所述的测量装置,
其中该测量装置(10)设计用于在该测量装置内把测量射线、尤其不相关的测量射线传导到该接收装置(14)上。
7.根据权利要求1至6之一所述的测量装置,
其中该测量装置(10)设计用于把具有与接收装置(14)的探测敏感性相匹配的强度的不相关射线投射到该接收装置(14)上。
8.根据权利要求7所述的测量装置,
其中该接收装置(14)具有可活动抑制的射线探测器,以及
其中未调制的射线以如下强度被传导到该接收装置(14)上:该强度与探测器信号的最大值、尤其该可活动抑制的射线探测器的最大探测事件速率相匹配。
9.根据权利要求1至8之一所述的测量装置,
其中该接收装置(14)具有至少一个SPAD。
10.根据权利要求1至9之一所述的测量装置,
其中该测量装置(10)设计用于,根据预给定的校准精确度以及由该接收装置所探测的未调制射线的强度来确定要由该校准装置(80)进行的校准过程的时长。
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