[发明专利]集成电路的标识

说明书

技术领域

本申请一般涉及集成电路领域，更具体地，涉及集成电路的标识。

背景技术

集成电路(IC)已经广泛地用于大量电子设备。在一些应用中，集成电路的标识和认证是有用的，例如，出于安全性目的。传统的标识和认证技术需要在IC中包括附加电路、非易失性存储器和/或固件，这并不总是可行的。

发明内容

通常，本公开的实施例提出了与集成电路的标识相关联的各种方法、设备、存储介质和/或系统。在各个实施例中，使计算设备产生包括电路元件的集成电路(IC)的标识号的方法可以包括：选择IC的电路元件，以及针对所选电路元件估计IC的属性的测量结果。各个测量结果可以与先前应用于IC的对应输入矢量相关联。该方法还可以包括：对至少部分地基于针对所选电路元件的所获取的IC属性的测量结果而形成的多个等式进行求解，以确定所选电路元件的比例因子，以及对针对所选电路元件确定的比例因子进行变换，以产生IC的标识号。

在各个实施例中，对多个等式进行求解可以包括：对还基于针对所选电路元件的IC的另一属性的其它测量结果而形成的多个等式进行求解。该属性和该另一属性可以包括漏电流、延迟、切换功率、寄生电容、电感、电阻、增益、偏置电压、阈值电压、工作温度、功耗或空闲电流中的两个。在各个实施例中，对多个等式进行求解可以包括：至少部分地基于测量结果中的误差，对还包括对应的误差项的多个等式进行求解。此外，对多个等式进行求解还可以包括：用公式表示包括减小多个等式的误差项的范数(norm)的目标函数的最优化问题。

在各个实施例中，对所确定的比例因子进行变换还可以包括：选择比例因子中的一个或多个，将一个或多个所选比例因子映射到对应的二进制码，以及使用针对所选比例因子的所映射的二进制码，产生IC的标识号。在各个实施例中，该变换可以包括：产生比例因子的概率分布函数(PDF)，将PDF之下的区域分为单独(individual)的部分，使得单独的部分中的每一个具有大致相等的面积，将二进制码分配给单独的部分，使得每个单独的部分与相应的二进制码相关联，基于分配给单独的部分的二进制码，将二进制码分配给单独的部分中包括的单独的比例因子，以及使用分配给单独的比例因子的二进制码，产生IC的标识号。

在各个实施例中，该方法还可以包括：对所产生的标识的冲突概率进行估计。此外，选择电路元件还可以包括：选择第一数量的电路元件。所产生的标识号可以是第一标识号。该方法还可以包括：确定冲突概率高于阈值冲突概率，基于确定冲突概率较高来选择第二数量的电路元件，以及产生IC的第二标识号，使得第二标识号具有比第一标识号相对低的冲突概率。第二数量的电路元件可以包括比第一数量的电路元件更多的电路元件。

在各个实施例中，使计算设备产生包括电路元件的集成电路(IC)的标识号的方法可以包括：启动将输入矢量应用于包括在IC中的电路元件中的一个或多个，以及响应于输入矢量的应用而接收测量值。该测量值可以与响应于输入矢量的应用的、针对所述一个或多个电路元件的一个或多个属性所测量的值相对应。该方法还可以包括：基于对应的测量值来形成多个等式，对所述多个等式进行求解以确定对应的一个或多个电路元件的一个或多个比例因子，以及对所确定的一个或多个比例因子进行变换以产生IC的标识号。所述多个等式中的每一个可以包括对应的一个或多个电路元件的一个或多个比例因子。

在各个实施例中，一个或多个属性中的每一个可以包括：漏电流、延迟、切换功率、寄生电容、电感、电阻、增益、偏置电压、阈值电压、工作温度、功耗或空闲电流之一。此外，对多个等式进行求解可以包括：对包括与一个或多个电路元件相对应的一个或多个项的等式进行求解。一个或多个项中的每一个包括：对应的电路元件的属性的标称值和对应的电路元件的比例因子。此外，对多个等式进行求解可以包括：至少部分地基于对应测量值中的误差，对还包括对应误差项的等式进行求解。对于这些实施例，该方法还可以包括：用公式表示包括减小多个等式的误差项的范数的目标函数的最优化问题，和/或使用线性规划、逐条线性规划、非线性规划、二次规划、或凸规划来对最优化问题进行求解。

在各个实施例中，该方法还可以包括：将电路元件中的一个或多个标识为多义(ambiguous)电路元件。形成多个等式还可以包括：形成多个等式，使得从多个等式中的单独等式中排除多义电路元件中的一个或多个。该方法还可以包括：引起IC的工作条件的改变，以降低测量值所需的精度。