[发明专利]集成电路的标识

权利要求书

1.一种使计算设备产生包括电路元件的集成电路IC的标识号的方法，所述方法包括：

选择IC的电路元件；

针对所选电路元件估计IC属性的测量结果，其中各个测量结果与先前应用于IC的对应输入矢量相关联；

对至少部分地基于针对所选电路元件所获取的IC属性的测量结果而形成的多个等式进行求解，以确定针对所选电路元件的比例因子；以及

对针对所选电路元件而确定的比例因子进行变换，以产生IC的标识号。

2.根据权利要求1所述的方法，其中对多个等式进行求解包括：对还基于针对所选电路元件的IC的另一属性的其它测量结果而形成的多个等式进行求解。

3.根据权利要求2所述的方法，其中所述属性和另一属性包括下述两个：漏电流、延迟、切换功率、寄生电容、电感、电阻、增益、偏置电压、阈值电压、工作温度、功耗或空闲电流。

4.根据权利要求1所述的方法，其中对多个等式进行求解包括：至少部分地基于测量结果中的误差，对还包括对应误差项的多个等式进行求解。

5.根据权利要求4所述的方法，其中对多个等式进行求解还包括：

用公式表示最优化问题，该最优化问题包括减小多个等式的误差项的范数的目标函数。

6.根据权利要求1所述的方法，其中对所确定的比例因子进行变换还包括：

选择比例因子中的一个或多个；

将一个或多个所选择的比例因子映射到对应的二进制码；以及

使用针对所选择的比例因子而映射的二进制码，产生IC的标识号。

7.根据权利要求1所述的方法，其中所述变换包括：

产生比例因子的概率分布函数PDF；

将PDF之下的区域分为单独的部分，使得单独的部分中的每一个具有大致相等的面积；

将二进制码分配给单独的部分，使得每个单独的部分与相应的二进制码相关联；

基于分配给单独的部分的二进制码，将二进制码分配给单独的部分中包括的单独的比例因子；以及

使用分配给单独的比例因子的二进制码，产生IC的标识号。

8.根据权利要求1所述的方法，所述方法还包括：

对产生的标识的冲突概率进行估计。

9.根据权利要求8所述的方法，其中选择所述电路元件还包括：选择第一多个电路元件，其中所产生的标识号是第一标识号，所述方法还包括：

确定所述冲突概率高于阈值冲突概率；

基于确定所述冲突概率较高来选择第二多个电路元件，其中所述第二多个电路元件包括与第一多个电路元件相比更多的电路元件；以及

产生IC的第二标识号，使得所述第二标识号具有比所述第一标识号相对低的冲突概率。

10.一种使计算设备产生包括电路元件的集成电路IC的标识号的方法，所述方法包括：

启动将输入矢量应用于包括在IC中的电路元件中的一个或多个；

响应于输入矢量的应用，接收测量值，其中所述测量值与响应于输入矢量的应用、针对所述一个或多个电路元件的一个或多个属性而测量的值相对应；

基于对应的测量值来形成多个等式，其中所述多个等式中的每一个包括对应的一个或多个电路元件的一个或多个比例因子；

对所述多个等式进行求解，以确定对应的一个或多个电路元件的一个或多个比例因子；以及

对所确定的一个或多个比例因子进行变换，以产生IC的标识号。

11.根据权利要求10所述的方法，其中一个或多个属性中的每一个包括以下之一：漏电流、延迟、切换功率、寄生电容、电感、电阻、增益、偏置电压、阈值电压、工作温度、功耗或空闲电流。

12.根据权利要求10所述的方法，其中对多个等式进行求解包括：对包括与一个或多个电路元件相对应的一个或多个项的等式进行求解，其中一个或多个项中的每一个包括：对应的电路元件的属性的标称值和对应的电路元件的比例因子。

13.根据权利要求10所述的方法，其中对多个等式进行求解包括：至少部分地基于对应测量值中的误差，对还包括对应误差项的等式进行求解。