[实用新型]一种检查待层压叠放件的观察架无效
| 申请号: | 201020526801.9 | 申请日: | 2010-09-08 |
| 公开(公告)号: | CN201804894U | 公开(公告)日: | 2011-04-20 |
| 发明(设计)人: | 沈彬;刘秋香 | 申请(专利权)人: | 常州亿晶光电科技有限公司 |
| 主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18 |
| 代理公司: | 常州市维益专利事务所 32211 | 代理人: | 周祥生 |
| 地址: | 213200 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 检查 层压 叠放 观察 | ||
技术领域:
本实用新型涉及太阳能电池组件生产过程中使用的一种检查装置,尤其涉及生产前段电池片串联完成后的电池串人工检测用观察架。
背景技术:
在制备太阳能电池组件的过程中,首先需要将若干片电池片通过串联、并联或串联与并联的组合方式连接起来,以满足不同功率要求,目前由于串联的方式较为简单,采用串联的方式居多,在待连接的硅片中,有可能会有低效率电池片混入,或者有部分在电池片生产时功率正常,在组件生产时功率衰减的电池片混入,上述现象的存在将严重影响晶体硅太阳电池组件的效率。在每块电池组件中,理论上要求所有电池片的效率应该相同,然而在现实操作中很难做到,只能使电池组件中的电池片的效率范围偏差尽可能小些,因为在一整个串联的电池串中,最低效率的电池片将限制整块组件的总输出。因此,在电池组件封装之前,必须使用相应检测设备对待封装串接电池片进行短路的电性能测试,观察其电性能曲线是否正常,及时将不正常的电池片挑出可以防止不必要的损失。
生产实践证明,仅仅对电池串进行电性能曲线测试并不完全可靠,因为,在待层压叠放件中混有杂物通过电性能测试设备是不能测出来的,当待层压叠放件中混入油脂或蛋白质等杂物很容易引起EVA性能的变化,间接影响组件的寿命,如果杂质在电池片表面更会影响电池片的输出功率,因此,在电池组件生产工艺中,在电性能测试后设置了人工观察工序,将待层压叠放件架设在一个较高的金属架上,且玻璃朝下,检验人员站在金属架下,通过向上仰视方法来人工观察待层压的叠放件,观察其中是否含有杂物,但这种检查方式迫使检验人员必须长时间抬头观察,由于长时间仰视,检验人员的颈部非常难受,检验人员不得不在金属架下放置一张滑椅,人坐在滑椅上仰头观察,疲劳了就休息一会儿,即使如此,从事本道工序检验人员都患有颈疾病,在实际操作过程中,人为的马虎检验、漏检或不检客观存在,人们都害怕从事这一工作。这样,不仅直接影响检验人员身体健康,而且直接影响到检验质量,最终影响太阳能电池组件的质量。为此,太阳能电池组件生产企业迫切需要解决这一难题。
实用新型内容:
本实用新型的目的是提供一种检查待层压叠放件的观察架,它能理想地解决现有技术中仰头检查产生的诸多不足。
本实用新型所采用的技术方案是:
本实用新型所述一种检查待层压叠放件的观察架,包括金属框架,其特征是:所述金属框架的顶面与水平面之间的夹角为10°~15°,在顶面的下边设有挡杆,在金属框架的顶面下方设有一块平面镜,平面镜与顶面平行。
进一步,所述金属框架的顶面与水平面之间夹角为15°。
由于将金属框架的顶面设计成倾斜状,且金属框架的顶面与水平面之间夹角为10°~15°,在金属框架的顶面下方放置一块平面镜,且平面镜与金属框架的顶面平行,这样待层压叠放件就能全部反射在斜置的平面镜中,检验人员站着就能通过平面镜清楚地看出待层压叠放件中是否存在低功率电池片,从而极大地减轻了检验人员的劳动强度,能从根本上消除检验人员因长期从事仰视而产生颈疾病的因素,不仅确保了检验人员身体健康,而且能提高检验质量,大幅度减少了人为因素对检验质量的影响,人工观察检查既快又准,更好地保证了太阳能电池组件的质量。
附图说明:
图1为本实用新型的结构示意图;
图中:1-金属框架;2-顶面;3-挡杆;4-平面镜;5-待层压叠放件。
具体实施方式:
下面结合附图详细说明本实用新型的具体实施方式:
本实用新型所述一种检查待层压叠放件的观察架,如图1所示,它由金属框架1和平面镜4组成,所述金属框架1的顶面2与水平面之间的夹角为15°,在顶面2的下边设有挡杆3,平面镜4设置在金属框架1的顶面2的下方,并且平面镜4与顶面2平行。
具体使用方法如下:将待层压叠放件5放置在金属框架1的顶面2上方,下边由挡杆3限位,将位于金属框架1上方的照明灯打开,检验人员可以站着通过平面镜4直接观察到待层压叠放件5中是否存在低功率电池片或损坏的电池片,当然检验人员也可以坐在滑椅上进行检查,这样更轻松、舒适。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于常州亿晶光电科技有限公司,未经常州亿晶光电科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201020526801.9/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:位置测量和导引装置
- 下一篇:电动工具电机转子轴双重轴绝缘套管制作工艺
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的





