[发明专利]硅掺杂的砷化铟/砷化镓量子点太阳电池的制作方法无效

专利信息
申请号: 201010602219.0 申请日: 2010-12-23
公开(公告)号: CN102130206A 公开(公告)日: 2011-07-20
发明(设计)人: 王科范;杨晓光;杨涛;王占国 申请(专利权)人: 中国科学院半导体研究所
主分类号: H01L31/18 分类号: H01L31/18
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 汤保平
地址: 100083 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 掺杂 砷化铟 砷化镓 量子 太阳电池 制作方法
【权利要求书】:

1.一种硅掺杂的砷化铟/砷化镓量子点太阳电池的制作方法,包括如下步骤:

步骤1:选择一n+型GaAs单晶片作为衬底;

步骤2:在n+型GaAs单晶片上依次生长n型GaAs层和本征GaAs缓冲层;

步骤3:在本征GaAs缓冲层上生长多个周期的量子点结构,作为电池的i吸收层;

步骤4:在多个周期的量子点结构上依次生长本征GaAs层、p型GaAs层、p+型GaAs层、p型Al0.4Ga0.6As层和p型GaAs层;

步骤5:在p型GaAs层上生长ZnS/MgF2层;

步骤6:在ZnS/MgF2层上生长并制作上金属电极;

步骤7:在n+型GaAs单晶片的下表面制作下金属电极;

步骤8:对电池组件进行封装,完成太阳电池的制作。

2.根据权利要求1所述的硅掺杂的砷化铟/砷化镓量子点太阳电池的制作方法,其中多个周期的量子点结构的每一周期包括:一掺硅的InAs量子点层和GaAs间隔层。

3.根据权利要求2所述的硅掺杂的砷化铟/砷化镓量子点太阳电池的制作方法,其中多个周期的量子点结构的周期数小于100。

4.根据权利要求2所述的硅掺杂的砷化铟/砷化镓量子点太阳电池的制作方法,其中所述的多个周期的量子点结构中的InAs量子点层的沉积厚度介于1.7到3个原子单层,生长温度介于430℃和530℃之间;硅原子的沉积待InAs量子点成核后开始,硅原子的面密度介于(1-100)*1010cm-2范围之间,硅原子的沉积速度要保证在量子点完成生长前达到所需沉积量。

5.根据权利要求2所述的硅掺杂的砷化铟/砷化镓量子点太阳电池的制作方法,其中GaAs间隔层的生长温度高于InAs量子点层的生长温度,小于630℃,GaAs间隔层的厚度不大于50nm。

6.根据权利要求1所述的硅掺杂的砷化铟/砷化镓量子点太阳电池的制作方法,其中步骤2-步骤4是采用分子束外延法或金属有机化学沉积法。

7.根据权利要求1所述的硅掺杂的砷化铟/砷化镓量子点太阳电池的制作方法,其中步骤5-步骤7是采用磁控溅射法或真空蒸发法。

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