[发明专利]用于监测纱线表面的颜色均匀性的方法及执行该方法的装置有效

专利信息
申请号: 201010539285.8 申请日: 2010-09-29
公开(公告)号: CN102087143A 公开(公告)日: 2011-06-08
发明(设计)人: Z·贝兰;P·考萨利克;J·斯劳彭斯基;M·斯图萨克 申请(专利权)人: 里特捷克有限公司
主分类号: G01J3/50 分类号: G01J3/50;G01N21/27
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 刘春元;王忠忠
地址: 捷克奥尔利*** 国省代码: 捷克;CZ
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摘要:
搜索关键词: 用于 监测 纱线 表面 颜色 均匀 方法 执行 装置
【说明书】:

技术领域

发明涉及用于通过监测(monitor)和评价(evaluation)由辐射源向纱线(yarn)发射而产生的来自纱线的反射的辐射来监测纱线表面的颜色均匀性(homogeneity)的方法。

本发明涉及用于监测纱线表面的颜色均匀性的装置,其包括设置于邻近纱线通过的空间的辐射源,和反射的辐射的至少一个传感器,同时该装置还包括评价装置。

背景技术

在用于纱线生产的织物原料的准备过程中,从这个过程直到生产出纱线,纤维原料的颜色均匀性作为质量参数之一被观测。从纺织技术的观点来看,认为不同颜色的纤维是杂质。

目前,众所周知的是,通过利用光学手段扫描纱线来检测已生产出的纱线中的颜色混合。该方法利用合适的光辐射源来照射纱线,同时测量从纱线反射的辐射能量,以便如果纱线包括任何颜色混合,则短期内从纱线反射的能量的量会改变。作为发光的辐射源,该辐射源通常被使用,其生成为可见光谱、或者也为红外光谱、或者为紫外线光谱的辐射。辐射源可产生单色辐射或由单色组分的光谱形成的辐射。作为光扫描元件,可以使用具有辐射-电信号的已定义转移特性的元件。然而,从纱线反射的能量的量的测量受纱线直径的变化和存在于测量附近的寄生辐射源,例如灯、阳光、闪烁的安全设备和信号灯(information beacon)等的负面影响。从那以后,这些寄生辐射源为反射能量的已测量值带来误差,这负面反映在纱线中异性纤维(foreign fibre)存在的检测的准确性。

目前,存在最小化寄生辐射源的影响的可能性,尤其是通过具有合适地定位的光学扫描元件的测量区域的合适的结构布置,所述光学扫描元件用于扫描来自纱线的反射能量,该反射能量由合适地定位的照射纱线的辐射源发射。为了充分地消除寄生辐射源的影响,整体上封闭测量区域是非常有必要的,从而阻止寄生辐射接近测量区域,就技术需要而论,在纺织机上用于监测纱线的装置的情况下,尤其是在维护纺织机的过程中、纱线断头、换纱(renewal of spinning)等,其实际上是不可能的。

如何抑制寄生辐射源的影响的另一种可能是使用具有高辐射强度的辐射源。此类解决方案的缺点是此类源的高能量消耗,从而也有高的热损失。另一个缺点是,高性能源的使用可能对光学扫描元件的扫描性能产生负面影响,而后其需要在灵敏度的最优范围以外工作。

对于大部分寄生辐射源来说,照射的能量的量在时间上不会明显地改变,或者它以比扫描来自纱线的反射的能量的量的频率慢若干数量级的频率改变。此类寄生辐射源的负面影响通过插入到用于处理代表从纱线反射的能量的量的信号的路径中的“高通滤波器”类型的滤波器而被最小化。不过,仅仅在由寄生辐射源辐射的能量的量的“慢”的改变被最小化。

然而,还存在以下寄生辐射源,在这样的寄生辐射源处,辐射的能量的量以与从纱线反射的能量的量的扫描频率类似的频率改变。在此类寄生辐射源处,用“高通滤波器”类型的滤波器的方法已经完全不适用,因为“高通滤波器”类型的滤波器即使具有各自定义的极限频率,与不希望的寄生辐射一起,将还是会明显地抑制代表来自故意辐射纱线的辐射源、并反射离开纱线的能量的量的信号。

在实际纺织操作中,存在不同寄生辐射源的整体混合,因此,当监测纱线时,寄生辐射源的影响的消除是大问题,它的修补或至少最小化是本发明的目的。

发明目的

本发明的目的已经通过一种用于监测纱线表面的颜色均匀性的方法而实现,它的原理如此组成,在分界面上由反射的辐射的传感器扫描来自纱线的反射的辐射而通过线数字光学传感器扫描绝对(absolute)纱线直径,其中绝对纱线直径的扫描和来自纱线的反射的辐射的扫描以相互时间同步的方式来执行。

用于监测纱线表面的颜色均匀性的装置的原理如此组成,相对于辐射源,在纱线通过的空间的后面,设置绝对纱线直径的线数字光学传感器,其位于与辐射源以及与反射辐射的传感器的分界面(joint plane),同时辐射源、线数字光学传感器,以及反射的辐射的传感器均与控制信号的源耦合,并且这些控制信号是相互同步的。控制信号的实际路线由系统的单独的部件的结构确定。

本发明的优选实施在独立权利要求中示出。

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