[发明专利]镀膜件及其制备方法无效

专利信息
申请号: 201010298205.4 申请日: 2010-09-30
公开(公告)号: CN102443772A 公开(公告)日: 2012-05-09
发明(设计)人: 张新倍;陈文荣;蒋焕梧;陈正士;黄嘉 申请(专利权)人: 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司
主分类号: C23C14/35 分类号: C23C14/35;C23C14/16;C23C14/06;B32B15/04
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地址: 518109 广东省深圳市*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 镀膜 及其 制备 方法
【权利要求书】:

1.一种镀膜件,包括基材,其特征在于:该镀膜件还包括形成于基材表面的打底层、形成于打底层表面的过渡层及形成于过渡层表面的硬质层,该打底层为Al、Ti、Cr或Zr层;该过渡层为AtXyMez(CvN1-v)层,其中0.4≤t≤0.8,0.35≤y≤0.65,0.05≤z≤0.08,0.75≤(t+y+z)≤1.05,0.75≤v≤1.0,其中A为打底层中的金属Al、Ti、Cr或Zr,X为W或Mo,Me为Rh或Pd;该硬质层为XnMeg(CkN1-k)层,其中0.35≤n≤0.65,0.05≤g≤0.08,0.40≤(n+g)≤0.71,0.70≤k≤1.0,其中X为过渡层中的金属W或Mo,Me为过渡层中的金属Rh或Pd。

2.如权利要求1所述的镀膜件,其特征在于:所述基材为铝合金、镁合金、钛合金或不锈钢。

3.如权利要求1所述的镀膜件,其特征在于:该打底层以磁控溅射的方式形成,该打底层的厚度为100~200nm。

4.如权利要求1所述的镀膜件,其特征在于:该过渡层以磁控溅射的方式形成,该过渡层的厚度为100~300nm。

5.如权利要求1所述的镀膜件,其特征在于:该硬质层以磁控溅射的方式形成,该硬质层的厚度为300~600nm。

6.一种镀膜件的制备方法,其包括如下步骤:

提供一基材;

在该基材表面形成打底层,该打底层为Al、Ti、Cr或Zr层;

在打底层的表面形成过渡层,该过渡层为AtXyMez(CvN1-v)层,其中0.4≤t≤0.8,0.35≤y≤0.65,0.05≤z≤0.08,0.75≤(t+y+z)≤1.05,0.75≤v≤1.0,其中A为打底层中的金属Al、Ti、Cr或Zr,X为W或Mo,Me为Rh或Pd;

在过渡层的表面形成硬质层,该硬质层为XnMeg(CkN1-k)层,其中0.35≤n≤0.65,0.05≤g≤0.08,0.40≤(n+g)≤0.71,0.70≤k≤1.0,其中X为过渡层中的金属W或Mo,Me为过渡层中的金属Rh或Pd。

7.如权利要求6所述的镀膜件的制备方法,其特征在于:所述形成打底层的步骤采用如下方式实现:采用磁控溅射法,使用铝靶、钛靶、铬靶、锆靶中的一种为靶材,以氩气为工作气体,氩气流量为100~300sccm,基材偏压为-100~-200V,加热使基材的温度为200~500℃,镀膜时间为10~30min。

8.如权利要求6所述的镀膜件的制备方法,其特征在于:所述形成过渡层的步骤采用如下方式实现:采用磁控溅射法,使用铝靶、钛靶、铬靶、锆靶中的一种、钨靶与钼靶中的一种以及铑靶与钯靶中的一种为靶材,以氨气和乙炔为反应气体,氨气流量为50~200sccm,乙炔流量为30~200sccm,以氩气为工作气体,氩气流量为100~300sccm,基材偏压为-100~-200V,加热使基材的温度为200~500℃,镀膜时间为30~40min。

9.如权利要求6所述的镀膜件的制备方法,其特征在于:所述形成硬质层的步骤采用如下方式实现:采用磁控溅射法,使用钨靶与钼靶中的一种及铑靶与钯靶中的一种为靶材,以氨气和乙炔为反应气体,氨气流量为50~200sccm,乙炔流量为30~200sccm,以氩气为工作气体,氩气流量为100~300sccm,基材偏压为-100~-200V,加热使基材的温度为200~500℃,镀膜时间为30~60min。

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