[发明专利]消除位相误差的反射式太赫兹光谱分析方法无效
| 申请号： | 201010291946.X | 申请日： | 2010-09-26 |
| 公开（公告）号： | CN102012361A | 公开（公告）日： | 2011-04-13 |
| 发明（设计）人： | 张亮亮;钟华;邓朝;张存林 | 申请（专利权）人： | 首都师范大学 |
| 主分类号： | G01N21/31 | 分类号： | G01N21/31 |
| 代理公司： | 北京科龙寰宇知识产权代理有限责任公司 11139 | 代理人： | 孙皓晨 |
| 地址： | 100037*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 消除 位相 误差 反射 赫兹 光谱分析 方法 | ||
【权利要求书】：
1.一种消除位相误差的反射式太赫兹光谱分析方法，其特征在于，包括如下步骤：
(1)测量没有放置样品时参考信号的太赫兹时域波形；
(2)测量载有待测样品信息的太赫兹时域波形；
(3)由太赫兹时域波形分别得到参考信号以及待测样品在有效频率范围内的位相谱ω为相应的角频率；
(4)将被测样品的位相谱减去参考信号的位相谱得到位相差谱
(5)由得到的位相差谱对相应的角频率求二阶导数计算提取出待测样品在系统有效频率范围内的太赫兹特征吸收谱。
2.如权利要求1中所述的消除位相误差的反射式太赫兹光谱分析方法，其特征在于，步骤(3)中太赫兹时域波形通过傅立叶变换得到参考信号以及待测样品在系统有效频率范围内的位相谱。
3.如权利要求1中所述的消除位相误差的反射式太赫兹光谱分析方法，其特征在于，步骤(1)和(2)中测量的太赫兹时域波形为一维测量中的太赫兹时域波形。
4.如权利要求1中所述的消除位相误差的反射式太赫兹光谱分析方法，其特征在于，步骤(1)和(2)中测量的太赫兹时域波形为二维测量中的太赫兹时域波形。
5.如权利要求1中所述的消除位相误差的反射式太赫兹光谱分析方法，其特征在于，所述待测样品为弱极性的有机化合物材料。
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