[发明专利]一种模拟集成电路设计调试的方法有效
申请号: | 201010230150.3 | 申请日: | 2010-07-19 |
公开(公告)号: | CN102339328A | 公开(公告)日: | 2012-02-01 |
发明(设计)人: | 吴玉平;陈岚;叶甜春 | 申请(专利权)人: | 中国科学院微电子研究所 |
主分类号: | G06F17/50 | 分类号: | G06F17/50 |
代理公司: | 北京市德权律师事务所 11302 | 代理人: | 王建国 |
地址: | 100029 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 模拟 集成电路设计 调试 方法 | ||
技术领域
本发明属于集成电路设计领域,尤其涉及一种模拟集成电路设计调试的方法。
背景技术
设计调试是模拟集成电路设计的重要环节。然而,在现有技术下,由于缺乏有效的设计自动化软件工具的支持,设计调试主要由设计人员手工进行,设计人员需要手工分析电路仿真波形,根据波形问题确定可能的问题器件之所在,然后试着去修改可能的器件参数,经过反复试验确定问题的具体位置,再通过反复试验修改并确定问题器件的参数值。传统手工方法的缺点是:一是速度慢,二是依赖设计人员的经验和知识,制约了模拟集成电路设计效率的提高。为了提高模拟集成电路的设计效率,需要有效的设计自动化工具的支持。
发明内容
本发明的目的在于提供一种模拟集成电路设计调试的方法,旨在解决现有模拟集成电路设计调试方法依赖设计人员的经验和知识,模拟集成电路设计效率低、速度慢的问题。
本发明是这样实现的,一种模拟集成电路设计调试的方法,该方法包括以下步骤:
根据电路分析自动建立器件参数对电路性能的影响趋势表;
分析模拟集成电路的仿真波形,确定模拟集成电路的问题波形;
根据问题波形定位问题器件及修改参数;
根据影响趋势表、问题器件的修改参数以及模拟集成电路性能与设计指标之间的差异确定问题器件的参数修改方向、修改范围和修改参考值;
根据问题器件参数的修改方向、修改范围和修改参考值,确定问题器件新的器件参数值。
本发明通过分析模拟集成电路的仿真波形,确定问题波形、问题器件修改参数及参数修改方向、修改范围和修改参考值,并据此确定问题器件新的器件参数值,解决了现行模拟集成电路设计调试依赖设计人员的经验和知识,设计效率低、速度慢的问题,同时提高了模拟电路设计调试的自动化水平。
附图说明
图1是本发明实施例提供的模拟集成电路设计调试的方法的实现流程图;
图2是本发明实施例提供的建立器件参数对电路性能的影响趋势表的方法的流程图;
图3是本发明实施例提供的确定模拟集成电路问题波形的方法的流程图;
图4是本发明实施例提供的确定问题器件修改参数的方法的实现流程图;
图5是本发明实施例提供的确定问题器件参数的修改方向、修改范围和修改参考值的方法的流程图;
图6是本发明实施例提供的确定问题器件的新的器件参数值的方法的流程图。
具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本发明进行进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明,并不用于限定本发明。
本发明实施例通过分析模拟集成电路的仿真波形,确定问题波形、问题器件的修改参数及参数修改方向、修改范围和修改参考值,并据此确定问题器件新的器件参数值。
本发明实施例是这样实现的,一种模拟集成电路设计调试的方法,所述方法包括以下步骤:
根据电路分析自动建立器件参数对电路性能的影响趋势表;
分析模拟集成电路的仿真波形,确定所述模拟集成电路的问题波形;
根据所述问题波形确定问题器件的修改参数;
根据所述影响趋势表、问题器件的修改参数以及模拟集成电路性能与设计指标之间的差异确定问题器件的参数修改方向、修改范围和修改参考值;
根据所述问题器件参数的修改方向、修改范围和修改参考值,确定所述问题器件新的器件参数值。
以下结合附图及实施例,对本发明作具体详述如下:
图1示出了本发明实施例提供的模拟集成电路设计调试的方法的实现流程,详述如下:
在步骤S101中,根据电路分析建立器件参数对电路性能的影响趋势表;
在步骤S102中,分析模拟集成电路的仿真波形,确定模拟集成电路的问题波形;
在步骤S103中,根据问题波形确定问题器件的修改参数;
在步骤S104中,根据影响趋势表、问题器件的修改参数以及模拟集成电路性能与设计指标之间的差异确定问题器件的参数修改方向、修改范围和修改参考值;
在步骤S105中,根据问题器件参数的修改方向、修改范围和修改参考值,确定问题器件新的器件参数值。
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