[发明专利]一种模拟集成电路设计调试的方法

权利要求书

1.一种模拟集成电路设计调试的方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤：

根据电路分析建立器件参数对电路性能的影响趋势表；

分析模拟集成电路的仿真波形，确定模拟集成电路的问题波形；

根据所述问题波形确定问题器件的修改参数；

根据所述影响趋势表、问题器件的修改参数以及模拟集成电路性能指标与设计指标之间的差异，确定所述问题器件参数的修改方向、修改范围和修改参考值；

根据所述问题器件参数的修改方向、修改范围和修改参考值，确定所述问题器件的新的器件参数值。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据电路分析建立器件参数对电路性能的影响趋势表的步骤具体包括：

以当前电路的设计为基础微扰动器件参数，产生新的设计网表；

根据所述设计网表，利用已有测试激励仿真新的电路设计；

利用已有测量命令对所述仿真电路设计进行测量，得到电路性能的指标值；

为每一器件的参数变化对电路性能的指标值影响建立影响趋势表；

按灵敏度从大到小对影响电路同一性能指标值的器件参数进行排序。

3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述分析模拟集成电路的仿真波形，确定模拟集成电路的问题波形的步骤具体包括：

比较模拟集成电路性能的设计值和目标值，找出模拟集成电路未满足的电路性能指标项；

根据所述未满足的电路性能指标项，找出电路性能测量指标项的直接波形；

根据所述直接波形找出电路性能测量指标项的间接波形。

4.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述问题波形确定问题器件的修改参数的步骤具体包括：

按模拟集成电路性能设计值和目标值问的相对误差，将模拟集成电路性能的指标项从大到小进行排列；

选取模拟集成电路性能指标项对应的参数修改序列；

按照参数对所述模拟集成电路性能指标项的影响大小，对所述参数修改序列进行排序。

5.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述影响趋势表、问题器件的修改参数以及模拟集成电路性能与设计指标之间的差异，确定所述问题器件参数的修改方向、修改范围和修改参考值的步骤具体包括：

根据所述影响趋势表以及模拟集成电路性能与设计指标值之差，确定所述问题器件参数的修改方向；

根据所述问题器件参数在当前点对模拟集成电路性能影响的最小灵敏度值和最大灵敏度值，确定所述问题器件参数修改的最大值和最小值；

利用加权平均算法，将问题器件参数在当前点对模拟集成电路性能影响的最小灵敏度值和最大灵敏度值进行加权平均，计算出所述问题器件参数的修改参考值。

6.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述问题器件参数的修改方向、修改范围和修改参考值，确定所述问题器件的新的器件参数值的步骤具体包括：

将所述问题器件参数修改的最大值和最小值设定为优化边界；

以所述问题器件的参数修改参考值作为初值，以区域内微扰动产生若干候选解；

以模拟集成电路的实际性能和设计的目标性能之间的相对差构成求解最小值的目标函数；

以优化算法扰动参数值变化寻找最小目标函数值，并将所述最小目标函数值对应的器件参数值设为所述问题器件的新的器件最优参数值。