[发明专利]信息存储读出系统及制造该系统的方法和装置有效
申请号: | 201010229618.7 | 申请日: | 2010-07-09 |
公开(公告)号: | CN102043280A | 公开(公告)日: | 2011-05-04 |
发明(设计)人: | 木村功儿;北田和生;由良友和;小盐智;岛江文人;中园拓矢 | 申请(专利权)人: | 日东电工株式会社 |
主分类号: | G02F1/1335 | 分类号: | G02F1/1335;G02F1/13 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 岳雪兰 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 信息 存储 读出 系统 制造 方法 装置 | ||
1.一种信息存储读出系统,其用于连续制造液晶显示元件的装置,该装置将从连续状光学膜的层积体卷筒沿相对长度方向成直角方向的线进行切割而切出成为与液晶面板的长边或短边对应的规定长度的薄片,与液晶面板贴合来连续制造液晶显示元件,该连续状光学膜包含:具有与形成为规定尺寸的液晶面板的长边或短边对应的宽度的包含粘接层的连续状偏光膜和自由剥离地层积于所述粘接层的连续状载体膜,该信息存储读出系统的特征在于,
包括:信息存储介质,其存储完成检查的连续状光学膜用的切断位置信息,该切断位置信息是关于基于通过对连续状光学膜所包含的连续状偏光膜的检查而检测出的疵点位置划定包含疵点的不良薄片的不良薄片切断位置和划定不包含疵点的正常薄片的正常薄片切断位置的信息;层积体卷筒,其是标记了识别标识的完成检查的连续状光学膜的层积体卷筒,
在连续制造液晶显示元件的装置中,基于根据识别标识的读取而从信息存储介质读出的切断位置信息和根据自层积体卷筒的完成检查的连续状光学膜的放出量而算出的长度测量数据,完成检查的连续状光学膜自与连续状载体膜相反的一侧切割至到达连续状载体膜的粘接层侧的面的深度,从而将偏光膜的正常薄片切出成为与液晶面板的长边或短边对应的尺寸并将其与液晶面板贴合。
2.如权利要求1所述的信息存储读出系统,其特征在于,完成检查的连续状光学膜还包含有自由剥离地层积于连续状偏光膜的不是粘接层侧的面的连续状表面保护膜。
3.一种制造信息存储读出系统的方法,该信息存储读出系统用于连续制造液晶显示元件的装置,该装置将从连续状光学膜的层积体卷筒沿相对长度方向成直角方向的线进行切割而切出成为与液晶面板的长边或短边对应的规定长度的薄片,与液晶面板贴合来连续制造液晶显示元件,该连续状光学膜包含:具有与形成为规定尺寸的液晶面板的长边或短边对应的宽度的包含粘接层的连续状偏光膜和自由剥离地层积于所述粘接层的连续状载体膜,
该信息存储读出系统具有:信息存储介质,其存储完成检查的连续状光学膜用的切断位置信息,该切断位置信息是关于基于通过对连续状光学膜所包含的连续状偏光膜的检查而检测出的疵点位置划定包含疵点的不良薄片的不良薄片切断位置和划定不包含疵点的正常薄片的正常薄片切断位置的信息;层积体卷筒,其是标记了识别标识的完成检查的连续状光学膜的层积体卷筒,
该方法的特征在于,包含如下步骤:
向连续状偏光片的至少一个面层积连续状保护膜来制造连续状偏光膜的步骤;
检查连续状偏光膜来检测连续状偏光膜内在疵点的步骤;
根据连续状偏光膜的疵点位置,生成切断位置信息的步骤,该切断位置信息是关于在相对长度方向成直角的方向划定不包含疵点的正常薄片的正常薄片切断位置和划定包含疵点的不良薄片的不良薄片切断位置的信息;
通过隔着粘接层将连续状载体膜自由剥离地层积于连续状偏光膜,来制造完成检查的连续状光学膜的步骤;
在连续制造液晶显示元件的所述装置中,存储所述切断位置信息,从而生成信息存储介质的步骤,所述切断位置信息用于在将完成检查的连续状光学膜放出时,在完成检查的连续状光学膜上将相对长度方向成直角方向的切痕自与连续状载体膜相反的一侧切割至到达连续状载体膜的粘接层侧的面的深度,以便依次切出偏光膜的不包含疵点的正常薄片和包含疵点的不良薄片;
生成与所述切断位置信息相关联的识别标识并将所述识别标识标记于完成检查的连续状光学膜的步骤;
将标记了识别标识的完成检查的连续状光学膜卷绕成卷筒状而制成层积体卷筒的步骤。
4.如权利要求3所述的方法,其特征在于,制造完成检查的连续状光学膜的步骤还包含有将连续状表面保护膜自由剥离地层积于连续状偏光膜的不是粘接层侧的面的步骤。
5.如权利要求3或4所述的方法,其特征在于,检测连续状偏光膜内在疵点的步骤包括以下步骤中的任一个或它们的组合:利用反射光主要检查连续状偏光膜表面的步骤;透射从光源照射的光而将连续状偏光膜内在的疵点作为阴影来检测的步骤;或将连续状偏光膜和偏光滤光片配置成使它们的吸收轴成为正交偏光,向其照射来自光源的光并观察透射的光,从而将连续状偏光膜内在的疵点作为亮点来检测的步骤。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于日东电工株式会社,未经日东电工株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201010229618.7/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:光圈单元以及包括该光圈单元的透镜镜筒
- 下一篇:一种通止规
- 信息记录介质、信息记录方法、信息记录设备、信息再现方法和信息再现设备
- 信息记录装置、信息记录方法、信息记录介质、信息复制装置和信息复制方法
- 信息记录装置、信息再现装置、信息记录方法、信息再现方法、信息记录程序、信息再现程序、以及信息记录介质
- 信息记录装置、信息再现装置、信息记录方法、信息再现方法、信息记录程序、信息再现程序、以及信息记录介质
- 信息记录设备、信息重放设备、信息记录方法、信息重放方法、以及信息记录介质
- 信息存储介质、信息记录方法、信息重放方法、信息记录设备、以及信息重放设备
- 信息存储介质、信息记录方法、信息回放方法、信息记录设备和信息回放设备
- 信息记录介质、信息记录方法、信息记录装置、信息再现方法和信息再现装置
- 信息终端,信息终端的信息呈现方法和信息呈现程序
- 信息创建、信息发送方法及信息创建、信息发送装置