[发明专利]一种纳米线阻变存储器及其实现方法无效

专利信息
申请号: 201010202275.5 申请日: 2010-06-17
公开(公告)号: CN101894909A 公开(公告)日: 2010-11-24
发明(设计)人: 刘晗;顾晶晶;王鹏飞;张卫 申请(专利权)人: 复旦大学
主分类号: H01L45/00 分类号: H01L45/00
代理公司: 上海正旦专利代理有限公司 31200 代理人: 陆飞;盛志范
地址: 20043*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 纳米 线阻变 存储器 及其 实现 方法
【权利要求书】:

1.一种纳米线阻变存储器,其特征在于,该纳米线阻变存储器包括:

位于衬底之上的纳米线;

以及,位于所述所述纳米线之上的金属电极;

其中所述纳米线为金属-金属氧化物核壳结构的纳米线。

2.根据权利要求1所述的纳米线阻变存储器,其特征在于,所述纳米线的核为Au、Pt、Pd、Ni或Co,作为阻变存储器的传导层;所述纳米线的壳为金属氧化物半导体或绝缘体,作为阻变存储器的阻变层。

3.根据权利要求1所述的纳米线阻变存储器,其特征在于,所述金属电极采用Pt、Al、Au、Pd或Ni。

4.根据权利要求2所述的纳米线阻变存储器,其特征在于,所述金属氧化物为Ga2O3、SnO2

5.一种纳米线阻变存储器的实现方法,其特征在于,包括下列步骤:

提供一绝缘体衬底;

在所述绝缘衬底上形成金属纳米颗粒;

利用气态-液态-固态法在所述绝缘体衬底上合成金属-金属氧化物核壳结构的纳米线;

将所形成的纳米线旋涂于一半导体衬底之上;

在所述纳米线之上形成金属电极。

6.根据权利要求5所述的实现方法,其特征在于,所述绝缘衬底为SiO2、Si3N4或者其它材料的绝缘体。

7.根据权利要求5所述的实现方法,其特征在于,所述金属纳米颗粒为Au、Pt、Pd、Ni或Co。

8.根据权利要求5所述的实现方法,其特征在于,所述金属氧化物为Ga2O3或SnO2

9.根据权利要求5所述的实现方法,其特征在于,所述半导体衬底为单晶硅、多晶硅或者绝缘体上的硅。

10.根据权利要求5所述的实现方法,其特征在于,所述金属电极采用Pt、Al、Au、Pd或Ni。

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