[发明专利]一种纳米线阻变存储器及其实现方法无效
申请号: | 201010202275.5 | 申请日: | 2010-06-17 |
公开(公告)号: | CN101894909A | 公开(公告)日: | 2010-11-24 |
发明(设计)人: | 刘晗;顾晶晶;王鹏飞;张卫 | 申请(专利权)人: | 复旦大学 |
主分类号: | H01L45/00 | 分类号: | H01L45/00 |
代理公司: | 上海正旦专利代理有限公司 31200 | 代理人: | 陆飞;盛志范 |
地址: | 20043*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 纳米 线阻变 存储器 及其 实现 方法 | ||
1.一种纳米线阻变存储器,其特征在于,该纳米线阻变存储器包括:
位于衬底之上的纳米线;
以及,位于所述所述纳米线之上的金属电极;
其中所述纳米线为金属-金属氧化物核壳结构的纳米线。
2.根据权利要求1所述的纳米线阻变存储器,其特征在于,所述纳米线的核为Au、Pt、Pd、Ni或Co,作为阻变存储器的传导层;所述纳米线的壳为金属氧化物半导体或绝缘体,作为阻变存储器的阻变层。
3.根据权利要求1所述的纳米线阻变存储器,其特征在于,所述金属电极采用Pt、Al、Au、Pd或Ni。
4.根据权利要求2所述的纳米线阻变存储器,其特征在于,所述金属氧化物为Ga2O3、SnO2。
5.一种纳米线阻变存储器的实现方法,其特征在于,包括下列步骤:
提供一绝缘体衬底;
在所述绝缘衬底上形成金属纳米颗粒;
利用气态-液态-固态法在所述绝缘体衬底上合成金属-金属氧化物核壳结构的纳米线;
将所形成的纳米线旋涂于一半导体衬底之上;
在所述纳米线之上形成金属电极。
6.根据权利要求5所述的实现方法,其特征在于,所述绝缘衬底为SiO2、Si3N4或者其它材料的绝缘体。
7.根据权利要求5所述的实现方法,其特征在于,所述金属纳米颗粒为Au、Pt、Pd、Ni或Co。
8.根据权利要求5所述的实现方法,其特征在于,所述金属氧化物为Ga2O3或SnO2。
9.根据权利要求5所述的实现方法,其特征在于,所述半导体衬底为单晶硅、多晶硅或者绝缘体上的硅。
10.根据权利要求5所述的实现方法,其特征在于,所述金属电极采用Pt、Al、Au、Pd或Ni。
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