[发明专利]LCD检查用驱动芯片接触式探针组件

说明书

技术领域

这是LCD检查用Probe Unit有关的发明，更详细的说明：能驱动Panel的TAP(Tape Automated Bonding)IC在LCD Panel Contact Pad直接Contact进行检查的Probe Unit。 

这能减小现存的Probe Unit备件，也能减小制造过程，因此这能降低制造单价、提高制造效率、LCD Panel Contact Pad的所有的Pitch能对应的Flim Type Probe Unit. 

背景技术

一般的电视、笔记本电脑、电脑等的视频显示器主要使用的LCDPanel认可电子信号(图像信号、同步信号、色相信号)的时候需要高密度的配置几十或者几白的连接终端。 

这样的LCD Panel是安装在产品之前认可试验信号后检查及试验LCD Panel的不良与否。 

为了检验LCD Panel电子的特性，具有的装置是Probe Unit。 

图1是现存的LCD Panel检查的结构图示的图案。 

从来使用的LCD用Probe Card是图1一样的结构。 

结构是Assembly Holder10、电路板Holder20、Blade Holder30、电路板40、Guide Plate50、Blade Plate。 

详细说明Assembly Holder10是Probe Card整体支持的部件，电路板Holder20是电介质材质，结合在Assembly Holder10下面一部固定的构 成，Blade Holder30跟电路板Holder20一样的电介质材质，可是在Assembly Holder10的下面电路板Holder20对应的对面结合固定的构成。 

这时候Blade Holder30下部比电路板Holder20延长而具备更后的厚度。 

这样在电路板Holder20的侧面附着电路板40。 

电路板40的一面附着在电路板Holder20的下面，在电路板40的下面形成在电路板40复印的电路与电子的连接的端子模式。 

Guide Plate50附着Blade Holder30下面，延长电路板Holder20下部的构成。 

Guide Plate50是silicone材质，尤其是两张的silicone Plate上·下结合构成。 

这种方式制造的Probe Unit是制造工程比较多，而且制造费用也高。 

两张silicone结合结构的Guide Plate50结合时，胶粘剂流到Blade插入的空，而且引出Blade不良，并且Guide Plate50不抓各个的Blade，Guide Plate正确的位置上固定很难而Blade流动也大。 

还有由于Blade不突出，因此Panel与Blade之间位置决定时间也增加，Blade缺陷也不能判断而不良是否判断时间也长。 

按照复杂的结构与制造的工程上涨成本而不能维修，结果LCD检验特性效率降低。 

发明内容

发明要解决的技术课题 

上述的从前Blade模式的Probe Unit是LCD Panel Pad与Blade之间的位置决定时间增加，而且使用Blade及silicone Plate引出制造过程增加，制造时间也增加。 

这样的原因上涨成本，而且信赖也降低的问题出现。 

技术方案 

本发明的目的就是解决从前的技术部分的问题。 

本发明的主要目的是制造TAP IC直接Contact LCD Panel Pad进行检查的Probe Unit。 

发明效果 

上述的内容一样的TAP IC直接Contact Type Probe Unit制造的话效果如下：能减小Probe Unit配件、能减小制造过程、能降低制造费用、能提高生产效率、能对应任何Pitch。这样能提供很多的有用的效果。 

附图说明

图1一般的LCD检查用Probe Card侧面断面图。 

图2本发明的Film Type Probe Unit斜视图。 

图3本发明的Film Type Probe Unit侧面断面图。 

图4本发明的Film Type与Probe Unit LCD Panel接触的平面图及侧面图。 

附图编号说明 

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110微调Tap