[发明专利]一种在透视成像过程中识别遮拦物的方法无效
| 申请号： | 201010165615.1 | 申请日： | 2010-04-30 |
| 公开（公告）号： | CN101853402A | 公开（公告）日： | 2010-10-06 |
| 发明（设计）人： | 袁艳;周志良;相里斌;王潜 | 申请（专利权）人： | 北京航空航天大学 |
| 主分类号： | G06K9/68 | 分类号： | G06K9/68;G06T5/00 |
| 代理公司： | 北京凯特来知识产权代理有限公司 11260 | 代理人： | 郑立明;孟丽娟 |
| 地址： | 100083*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 透视 成像 过程 识别 遮拦 方法 | ||
【权利要求书】：
1.一种在透视成像过程中识别遮拦物的方法，其特征在于，包括：
根据对焦到不同深度的平移量，对待处理图像序列进行平移并求和平均获得初步合成图像序列；
根据所述初步合成图像序列中对焦在遮拦物的图像对应的平移量，对待处理图像序列进行平移并计算获得消除遮拦物的图像序列。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对待处理图像进行平移并计算获得消除遮拦物的图像序列，具体包括：
对平移后的待处理图像序列计算获得灰度方差图，并通过预定值识别遮拦物获得遮拦二值图，再将所述遮拦二值图与平移后的待处理图像序列相乘获得消除遮拦物的图像序列。
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述对平移后的待处理图像序列计算获得灰度方差图包括通过以下公式计算获得每个像素序列的方差：
其中，S(i，j)表示每个像素序列的方差，Ik(i，j)表示第k个平移后的待处理图像中像素(i，j)的灰度值，k表示自然数。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京航空航天大学，未经北京航空航天大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201010165615.1/1.html，转载请声明来源钻瓜专利网。
