[发明专利]一种超声波探伤仪大角度及小角度纵波斜探头校准方法

权利要求书

1.一种超声波探伤仪大角度及小角度纵波斜探头校准方法，包括一超声波探伤仪，其通过探头发射超声波进行工件探伤，其特征在于，本方法依次包括以下步骤：

1)准备一用于探头校准的试块，以及一用于超声波探伤仪的大角度或小角度纵波斜探头，试块应当为实际探伤时工件所使用的材料，并在试块的三倍近场以外，分别钻2个距离试块上表面水平高度分别为h₁和h₂的孔，孔直径为φ，且h₁≠h₂；

2)使用探头在试块上表面来回移动，直到高度h₁的孔在超声波探伤仪上显示最高反射回波，得到探头内超声波发出端至该孔的距离S₁，并测量此时该孔到探头前端的距离L₁；然后再移动探头，直到高度h₂的孔在超声波探伤仪上显示最高反射回波，得到探头内超声波发出端至该孔的距离S₂，并测量此时该孔到探头前端的距离L₂；

3)按照下述数学模型得到探头内部声程a、探头前置声程b及探头K值：

τ₁＝S₁+a，τ₂＝S₂+a，(S₂+φ/2)/(S₁+φ/2)＝h₂/h₁＝n；

(1).探头内部声程：a＝[n(τ₁+φ/2)-(τ₂+φ/2)]/(n-1)；

(2).探头K值：K＝tgcos^-1h₁/(τ₁+φ/2-a)；

(3).探头前置声程：b＝(L₂-nL₁)/(n-1)。