[发明专利]一种上行干扰测量的实现方法、装置和通信系统无效

专利信息
申请号: 201010125114.0 申请日: 2010-03-11
公开(公告)号: CN102196473A 公开(公告)日: 2011-09-21
发明(设计)人: 岳建军;李宝民 申请(专利权)人: 上海华为技术有限公司
主分类号: H04W24/02 分类号: H04W24/02
代理公司: 深圳市深佳知识产权代理事务所(普通合伙) 44285 代理人: 彭愿洁;李文红
地址: 200121 *** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 上行 干扰 测量 实现 方法 装置 通信 系统
【说明书】:

技术领域

发明涉及通信技术领域,具体涉及一种上行干扰测量的实现方法、装置和通信系统。

背景技术

在无线领域中,上行环境复杂,上行干涉对于网络质量影响很大,其中,上行干扰包括基站内互调、天馈驻波和基站外干扰。为了优化网络,需要对上行干扰进行测量,在现有技术中,一般使用空闲配置信道对上行干扰进行测量,方法如下:

基站控制器对基站中的载频模块进行参数配置之后,若载频模块确定配置信道(主要包括配置射频单元和配置的基带单元,简称配置的射频和基带单元)中有空闲配置信道,则使用空闲配置信道进行上行干扰测量:由基带上行模块完成解调译码后,统计1个慢速随路控制信道(SACCH,Slow Associated ControlChannel)复帧(480ms)内的上行电平值,由于该信道没有激活(即该信道是空闲配置信道),因此计算所得的上行电平值将会作为上行干扰值由基站作为话统上报给基站控制器,再由基站控制器通过话统呈现给用户,用户通过分析话统可知该载频所处频点的干扰状况,然后根据干扰状况进行网络优化。

在现有方案中,由于上行干扰测量采用的是空闲配置信道,所以,该测量上行干扰的功能会受到配置信道的使用状况、配置频点和信道类型等的约束,比如,在配置信道均被占用时,该功能将不能启用。而且,测量的上行频点受限于配置信道的配置频点;测量的信道类型也受限于空闲配置信道的信道类型。

发明内容

本发明实施例提供一种上行干扰测量的实现方法、装置和通信系统。

一方面,本发明实施例提供一种上行干扰测量的实现方法,包括:

确定网络设备中是否存在未配置的射频和基带单元;

若是,则采用未配置的射频和基带单元作为测量单元进行上行干扰的测量。

另一方面,本发明实施例提供一种网络设备,包括:

确定单元,用于确定该网络设备中是否存在未配置的射频和基带单元;

第一测量单元,用于在确定单元确定存在未配置的射频和基带单元时,采用未配置的射频和基带单元作为测量单元进行上行干扰的测量。

再一方面,本发明实施例提供一种通信系统,包括上述实施例中提供的网络设备。

本发明实施例通过未配置的射频和基带单元来进行上行干扰的测量,由于测量所采用的资源是未配置的,不占用配置信道,所以该测量功能不会对配置信道造成影响;而且,也不会受配置信道的约束,该测量单元的测量频点和信道类型等都支持可配置,与现有的上行干扰测量技术相比,可以较为灵活地进行上行干扰测量。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案,下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本发明实施例一提供的方法的流程图;

图2是本发明实施例三提供的方法的流程图;

图3是本发明实施例三提供的方法的场景示意图;

图4是本发明实施例三提供的方法的另一场景示意图;

图5是本发明实施例三提供的方法的另一流程图;

图6是本发明实施例三提供的方法的又一场景示意图;

图7是本发明实施例提供的网络设备的结构示意图;

图8是本发明实施例提供的网络设备的另一结构示意图;

图9是本发明实施例提供的通信系统的结构示意图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。

本发明实施例提供一种上行干扰测量的实现方法、装置和通信系统。以下分别进行详细说明。

实施例一、

本发明实施例将从网络设备的角度进行描述,该网络设备具体可以为基站,也可以为与基站具有类似功能的其他网络实体,本实施例以基站为例进行说明。

本发明实施例提供一种上行干扰测量的实现方法,包括:确定是否存在未配置的射频和基带单元,若是,则采用未配置的射频和基带单元作为测量单元进行上行干扰的测量。

可选的,若不存在未配置的射频和基带单元(即射频和基带单元均已配置),则可以不启动上行干扰测量功能,或者,也可以增加虚拟射频和基带单元,采用增加的虚拟射频和基带单元作为测量单元进行上行干扰的测量。参见图1,具体流程可以如下:

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