[发明专利]一种高居里点低电阻率无铅PTCR陶瓷材料及其制备方法有效

专利信息
申请号: 201010123229.6 申请日: 2010-03-15
公开(公告)号: CN101830698A 公开(公告)日: 2010-09-15
发明(设计)人: 周东祥;龚树萍;赵俊;邱传贡 申请(专利权)人: 华中科技大学;佛山市南海蜂窝电子制品有限公司
主分类号: C04B35/468 分类号: C04B35/468;C04B35/624
代理公司: 华中科技大学专利中心 42201 代理人: 曹葆青
地址: 430074 湖北*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 一种 居里 电阻率 ptcr 陶瓷材料 及其 制备 方法
【说明书】:

技术领域

本发明属于功能陶瓷材料技术领域,具体涉及一种BaTiO3基高居里点低电阻率无铅PTCR陶瓷材料及其制备方法。

背景技术

PTCR一般是指具有正温度系数的热敏电阻材料或元器件。典型的PTCR材料是以钛酸钡为基的半导体陶瓷材料,其特点是当环境温度上升到某一点温度时(居里点或称开关温度点)其电阻值将猛增几个数量级。用这种材料作为发热体其发热功率几乎不随外加电压的变化而变化,因而有自动恒温的功能。同时因其具有元件结构简单、成本低廉、节约能源、无明火及安全可靠等一系列优点而广泛应用于工业和军用电子设备,以及家用电器等领域。

目前国内外应用的高温PTCR材料大都是含铅的钛酸钡基半导体陶瓷材料,是以钛酸铅作为移动剂实现居里点向高温的移动。而铅离子的毒害性是众所周知的,含铅PTCR陶瓷从制备、使用到回收都存在铅危害。这是因为铅是一种强烈神经毒性的重金属元素,是当今诸多危害人体健康的有害元素之一。铅进入人体后,通过血液侵入大脑神经组织,使营养物质和氧气供应不足,造成脑组织损伤,严重者可能导致终身残废。目前世界各国已开始禁止或严格控制铅的使用。为此,开发钛酸钡基无铅高温PTCR材料已成为国内外的研究热点。

制备钛酸钡基无铅高温PTCR材料,其居里点的移动通常采用(Bi0.5Na0.5)TiO3作为移动剂。例如中国发明专利,公开号CN10128473A,公开了一种无铅高居里点PTCR材料,其主要成分组成为:(Bi0.5Na0.5)x(Ba1-x)TiO3(主分子式),其中x=0.01~0.10,配方中另含有微量半导化元素等。其制造工艺是:先分别合成(Bi0.5Na0.5)TiO3和BaTiO3,而后再按主分子式的配比,同时加入微量半导化元素进行合成,所得材料电阻率为1000Ωcm左右,升阻比(最大电阻与最小电阻之比)≥3个数量级。再如中国发明专利,公开号CN 101284731A,也公开了一种无铅高居里点PTCR材料及其制备方法,其主晶相组成同样为:(Bi0.5Na0.5)x(Ba1-x)TiO3(主分子式),其中x=0~0.5,同样配方中也另含有La、Ca、Sr等微量元素等。制备工艺采用一次合成的方法。所得材料电阻率为800Ωcm,升阻比为2~4个数量级。上述材料的电阻率较高、升阻比偏小,整体PTC效应欠佳,满足不了低电压应用场合(例如汽车空调等低压电器)的技术要求。

在制备工艺方面一般均采用传统的固相烧结方法(包括上述CN10128473A、CN 101284731A等中国发明专利),在初期的混料中,一般都采用去离子水作为介质进行湿法球磨,由于钠盐属水溶性盐类,在球磨过程中很容易造成钠离子流失,导致材料化学配比偏离。同时由于合成温度较高(1000℃左右),使Bi元素极其容易挥发,同样会导致材料化学配比偏离。对于钙钛矿(ABO3)结构的(Bi0.5Na0.5)x(Ba1-x)TiO3材料,由于钠离子的流失和Bi元素的挥发,必将产生大量的A位离子空位,其结果将形成高浓度的受主杂质,影响材料的半导体化,难以得到低电阻率的PTC材料。因此,必须开发新的材料体系或新的工艺方法,充分降低材料电阻率,以满足不同领域的应用要求。

发明内容

本发明的目的是提供一种高居里点低电阻率无铅PTCR陶瓷材料,该陶瓷材料具有高居里点、低电阻率的特点;本发明还提供的该陶瓷材料的制备方法。

本发明提供的一种高居里点低电阻率无铅PTCR陶瓷材料,其特征在于,该材料的组成为式①,式中:x=0.1~0.5;y=0.1~0.3;z=0.001~0.01;j=0.1~0.2;k=0.01~0.05;w=0.0001~0.001,成分中Ln为Sm、Nd、Y和La任一种或二种元素;Cn为Ca和Sr中的至少一种元素;

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