[发明专利]X射线系统和具有剂量面积乘积测量室的瞄准器有效
申请号: | 201010105851.4 | 申请日: | 2010-01-26 |
公开(公告)号: | CN101791226A | 公开(公告)日: | 2010-08-04 |
发明(设计)人: | 英戈·克莱姆 | 申请(专利权)人: | 西门子公司 |
主分类号: | A61B6/00 | 分类号: | A61B6/00 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 时永红 |
地址: | 德国*** | 国省代码: | 德国;DE |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 射线 系统 具有 剂量 面积 乘积 测量 瞄准 | ||
技术领域
本发明涉及一种改进的X射线系统和一种具有DAP测量室的瞄准器。
背景技术
在医学中X射线主要用于确定身体的解剖结构,其与症状、征兆(Zeichen) 和可能的其它检查结合可以进行诊断。人或动物身体的不同厚度的组织不同强 度地吸收X射线,从而可以实现身体内部的影像(阴影化、亮化和其它X射线图)。
在治疗和诊断中应用X射线的问题是,X射线会致癌。因此人们致力于将 照射患者的X射线降低到刚好能产生足够质量的X射线图所需的量。在这点上不 同的立法者要求对于每个进行的X射线措施确定所谓的剂量面积乘积或者说 Dose Area Products(DAP)。
在现有技术中,在瞄准器单元和患者之间的射程中设置为此所需的DAP测 量室,通常作为在相应的规定生效之前安装的X射线系统的加装装备。
然而,如果X射线系统具有用于预告与检查目的匹配的辐射入射场的装置 (所谓的光学瞄准器(Lichtvisier)),则瞄准器光线(Visierlicht)同样穿过DAP 测量室并在那里被衰减,从而要求用于光学瞄准器的更强的光源,或者说不能 采用特定的光源,例如LED,因为典型的DAP测量室具有70%或者更少的透射 比,即30%或者更多的可见的瞄准器光线被吸收。
发明内容
由此本发明要解决的技术问题是,提出一种具有DAP测量室的改进的X射 线系统。
本发明通过一种X射线系统解决上述技术问题,该X射线系统具有:
-在X射线源和检测器之间延伸的射程;
-在射程中设置的分光镜(Teilerspiegel),用于将可见光耦合到射程中; 以及
-DAP测量室,其设置在X射线源和分光镜之间的射程中。
在此,检测器理解为可以用于采集X射线辐射的任何装置,例如电子检测 器或者X光片。
将DAP测量室设置在射程中在用于耦合用于光学瞄准器的可见光的分光 镜之前的优点是,瞄准器光线不会被衰减并且由此可以使用市场上常见的LED。
还可以将DAP室作为第一元件设置在瞄准器中在靠近焦点的用于保护防 止不期望释放的辐射、即在射线途径中过滤并进一步遮光的薄片(Lamellen) 之后。
最后,可以设置计算单元,其确定设置在射程中在DAP测量室之后的元件 的影响并相应校正由DAP测量室提供的测量结果,从而确定计算的DAP值,该 值与从瞄准器最后发出的射线相一致。
在现有技术中,DAP测量室通常被设置在瞄准器外部,这要求附加的位置 并且带来提高的清洗开销。通过按照本发明将DAP测量室设置在瞄准器内部, 避免了该缺陷。
本发明还涉及一种相应构造的用于X射线系统的瞄准器。
附图说明
以下结合附图详细解释本发明的实施例。其中,
图1示出了具有X射线源、瞄准器和检测器的X射线系统。
具体实施方式
图1示出了具有X射线源110、瞄准器120和检测器130的X射线系统100。未 示出的有三脚架、支架、患者卧榻和类似机械元件。瞄准器120设置在从射线源 110延伸到检测器130的射程111中。
瞄准器120包括可运动的靠近焦点的薄片121,其首先用于防护不期望释放 的辐射,并且构成瞄准器120的位于射程中的第一元件。在示出的实施例中在射 程中紧接着设置DAP测量室122。在DAP测量室122之后设置可机械地在射程中 运动的滤镜元件123A、123B、123C。
在射程中在滤镜元件123之后的分光镜124用于将来自光源125的可见光耦 合到射程111中以实现所谓的光观测器,其用于预告与检查目的匹配的辐射入射 场。可运动的光阑126形成射程中最后的瞄准器元件,利用该光阑可以对照射场 进行限制。
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