[发明专利]提供多模式离子源的技术有效
申请号: | 200980129479.6 | 申请日: | 2009-06-09 |
公开(公告)号: | CN102105966A | 公开(公告)日: | 2011-06-22 |
发明(设计)人: | 彼得·E·库鲁尼西;拉傑许·都蕾;科斯特尔·拜洛;威尔汉·P·普拉托 | 申请(专利权)人: | 瓦里安半导体设备公司 |
主分类号: | H01L21/265 | 分类号: | H01L21/265 |
代理公司: | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人: | 臧建明 |
地址: | 美国麻*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 提供 模式 离子源 技术 | ||
1.一种用于离子植入的设备,所述设备包括:
离子源,其在多种模式下操作,其中第一模式为弧放电模式,且第二模式为RF模式。
2.根据权利要求1所述的设备,还包括用于在所述多个模式之间切换的开关。
3.根据权利要求1所述的设备,还包括RF电源及RF匹配网络,用于在所述RF模式下操作所述离子源。
4.根据权利要求1所述的设备,其中所述离子源基于乙硼烷、戊硼烷、碳硼烷、十八硼烷、癸硼烷、硼、砷、磷、铟、锗及碳中的至少一个而产生等离子体。
5.根据权利要求1所述的设备,还包括阴极、反射极以及第一额外电极以提供较大电极面积。
6.根据权利要求1所述的设备,还包括阴极、反射极、第一额外电极以及第二额外电极以提供较大电极面积。
7.一种多模式离子源,所述离子源包括:
腔室,其支持多种操作模式,其中第一操作模式为弧放电模式,且第二操作模式为RF模式。
8.根据权利要求7所述的离子源,还包括用于在所述多个操作模式之间切换的开关。
9.根据权利要求7所述的离子源,还包括RF电源及RF匹配网络,用于在所述RF模式下操作所述离子源。
10.根据权利要求7所述的离子源,其中所述离子源基于乙硼烷、戊硼烷、碳硼烷、十八硼烷、癸硼烷、硼、砷、磷、铟、锗及碳中的至少一个而产生等离子体。
11.根据权利要求7所述的离子源,还包括阴极、反射极以及第一额外电极以提供较大电极面积。
12.根据权利要求7所述的离子源,还包括阴极、反射极、第一额外电极以及第二额外电极以提供较大电极面积。
13.一种用于多种模式中的离子植入的方法,所述方法包括:
基于弧放电模式而提供离子源的第一操作模式;
基于RF模式而提供所述离子源的第二操作模式;以及
使用至少一开关在所述第一模式与所述第二模式之间切换。
14.根据权利要求13所述的方法,其中所述离子源包括用于在所述多个操作模式之间切换的开关。
15.根据权利要求13所述的方法,其中所述离子源包括RF电源及RF匹配网络,用于在所述RF模式下操作所述离子源。
16.根据权利要求13所述的方法,其中所述离子源基于乙硼烷、戊硼烷、碳硼烷、十八硼烷、癸硼烷、硼、砷、磷、铟、锗及碳中的至少一个而产生等离子体。
17.根据权利要求13所述的方法,其中所述离子源包括阴极、反射极以及第一额外电极以提供较大电极面积。
18.根据权利要求13所述的方法,其中所述离子源包括阴极、反射极、第一额外电极以及第二额外电极以提供较大电极面积。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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