[发明专利]一种BiFeO3薄膜电阻存储器结构及其制备方法无效

专利信息
申请号: 200910199163.6 申请日: 2009-11-20
公开(公告)号: CN101728484A 公开(公告)日: 2010-06-09
发明(设计)人: 陈心满;石旺舟;包定华;王涛 申请(专利权)人: 上海师范大学
主分类号: H01L45/00 分类号: H01L45/00
代理公司: 上海伯瑞杰知识产权代理有限公司 31227 代理人: 季申清
地址: 200234 *** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 bifeo sub 薄膜 电阻 存储器 结构 及其 制备 方法
【说明书】:

技术领域

发明属于半导体技术领域,尤其涉及一种BiFeO3薄膜电阻存储器结构及其制备方法。

背景技术

目前,一些氧化物材料如NiO、TiO2、PrxCa1-xMnO3、SrZrO3等的电阻开关特性,即两个不同电阻态之间的转换特性备受关注,而利用该特性所开发的存储器件具有工作电流低、驱动电压小、稳定性高、存储速度快、存储容量大等技术优点,有望成为新一代非挥发性存储器。

但不同的材料体系,其元件所表现出来的存储特性以及存储机理并不一致。在这些材料中,BiFeO3是种多功能材料,具有简单钙钛矿结构,室温下同时具有铁电有序和铁磁有序,是少数在室温下能够同时具有铁电性和铁磁性的材料之一。目前,研究人员采用各种制备技术开展了BiFeO3薄膜铁电性和铁磁性的研究,希望实现BiFeO3基的铁电存储器。但BiFeO3基铁电存储器实现仍然存在一定的障碍,如漏电流过大,具有较大的矫顽场等。因此,更广泛的开发并应用BiFeO3的光电性能,更加受到重视。现有技术中还未见有BiFeO3薄膜电阻开关特性的报道。

发明内容

本发明的目的是基于BiFeO3薄膜的电阻开关特性,提供一种制备工艺简单,低成本,基于BiFeO3薄膜三明治结构电阻开关特性的可逆变式电阻存储器。

本发明的技术方案是,一种包含BiFeO3薄膜电阻存储器的集成电路,其特征在于,包含:

LaNiO3电极覆盖的Si衬底;

Pt/TiO2/SiO2/Si衬底;

于所述LaNiO3及Pt底电极上形成的BiFeO3薄膜以及在该BiFeO3薄膜表面上的多个表面电极,所述表面电极包括Pt、Au和Ag金属电极。

一种制备包含BiFeO3薄膜电阻存储器的集成电路的方法,其特征在于,该方法包括:

制备BiFeO3溶胶,即将Fe(NO3)3.5H2O与Bi(NO3)3.9H2O同溶剂乙二醇甲醚充分混合,并在60~80℃恒温搅拌0.5~1小时后,加入二乙醇胺,充分混合搅拌后自然冷却到室温,室温下搅拌2~4小时后过滤,得到BiFeO3溶液,经陈化后得到其溶胶;

制备BiFeO3薄膜,即将所述BiFeO3溶胶在LaNiO3覆盖的衬底上,该衬底是Si衬底、LaNiO3/Si衬底、LaNiO3/SiO2/Si衬底以及Pt/TiO2/SiO2/Si衬底中的一种,采用旋涂法制备BiFeO3薄膜,甩胶后的湿膜在热平板上进行预处理,经过多次甩胶-预处理-甩胶过程,得到BiFeO3薄膜;

所述BiFeO3薄膜经500℃~600℃下退火冷却到室温后在其表面镀所述的表面电极,形成所述BiFeO3薄膜电阻存储器。

进一步的,加入二乙醇胺调节溶液粘度及后续薄膜的微结构。

本发明提供的BiFeO3薄膜存储器件,具有优异的电阻开关特性,高阻、低阻两状态之间的电阻值比在103量级,能够满足实际应用的要求;其中高、低组态分别对应布尔逻辑的“0”和“1”,存储功能得以实现;该BiFeO3薄膜存储器件的制备工艺能够与CMOS工艺兼容;本发明所述的薄膜制备方法不仅保持了溶胶-凝胶法操作简单、成本低、化学组成易控等特点,而且制备得到的薄膜无裂纹、致密性好、晶粒分布均匀。

附图说明

图1为本发明的基于BiFeO3薄膜存储器件的结构示意图

其中,101是经热氧化的硅(Si)衬底

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