[发明专利]激光加工装置有效
申请号: | 200910163332.0 | 申请日: | 2009-08-13 |
公开(公告)号: | CN101658976A | 公开(公告)日: | 2010-03-03 |
发明(设计)人: | 能丸圭司 | 申请(专利权)人: | 株式会社迪思科 |
主分类号: | B23K26/04 | 分类号: | B23K26/04 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 | 代理人: | 陈 坚 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 激光 加工 装置 | ||
技术领域
本发明涉及使用激光束对半导体晶片等工件进行加工的激光加工装 置。更详细地说,涉及用于对激光束的聚光点位置进行修正的技术。
背景技术
在半导体器件的制造工序中,在大致圆板形状的半导体晶片的表面 上呈矩阵状地形成IC(integrated circuit:集成电路)或LSI(large-scale integration:大规模集成电路)等电路,然后将形成有上述多个电路的晶 片沿着预定的间隔道(分割预定线)呈格子状地切断,由此使各电路分 离而成为芯片。
此外,在被广泛利用于电气设备等中的发光二极管和激光二极管等 光器件的制造工序中,关于在由蓝宝石等构成的基板的表面上层叠有氮 化镓类化合物半导体等的光器件晶片,也通过沿着间隔道进行切断,来 分割成一个个器件,从而使其芯片化。
在这样对各种晶片进行切断(切割)时,使用被称为切割机(dicer) 的切断装置。此外,近年来,还开发出利用激光束对半导体晶片等工件 进行切断的方法(例如,参照专利文献1、2)。例如,在专利文献1所述 的加工方法中,向由氧化物单晶构成的工件照射激光束,通过光化学反 应使氧化物单晶分子离解和蒸发,由此在工件的预定位置形成槽,沿着 该槽将工件劈开。
此外,在专利文献2所述的切断方法中,将聚光点对准工件内部地 照射相对于工件具有透射性的脉冲激光束,从而沿分割预定线形成了变 质区域。由于该变质区域比其它部分的强度要低,所以通过沿着分割预 定线施加外力,工件便以变质层为起点分割开来。
另一方面,根据作为加工对象的工件的不同,在直至切割工序之前 的过程中,有时候会产生翘曲或起伏,或者表面不平坦而形成有凹凸。 在对这样的工件进行加工的情况下,由于加工面的表面位移不是固定的, 所以激光束的聚光点位置在深度方向上产生偏差,加工精度会降低。关 于在上述工件内部形成变质层的激光加工,作为加工对象的工件的翘曲、 起伏以及凹凸对其影响特别大。
因此,以往提出了这样的激光加工装置:预先对工件上的激光束照 射区域的表面位移进行测量,根据其结果,一边对聚光点的深度方向上 的位置进行调整一边照射激光束(例如,参照专利文献3、4)。
此外,还提出了具有如下结构的激光加工装置:利用响应性良好且 能够高速移动的音圈电动机,对激光束的聚光点位置进行调整(参照专 利文献5)。在该专利文献5所述的激光加工装置中,在支承聚光透镜的 支承部中内置有磁铁,并且在配置于该支承部周围的壳体上设置有线圈, 利用线圈的驱动力使支承部移动,由此对聚光透镜的位置进行调整。
专利文献1:日本特开平10-305420号公报
专利文献2:日本特开2002-192370号公报(特许第3408805号)
专利文献3:日本特开2007-152355号公报
专利文献4:日本特开2008-16577号公报
专利文献5:日本特开2008-68308号公报
但是,在上述现有技术中,存在以下所示的问题。即,在现有的聚 光加工装置中,在激光束的聚光点位置的调整中利用了压电元件等致动 器,然而,由于这样的致动器的可动距离一般较短,所以存在可调整聚 光点位置的范围窄的问题。
另一方面,关于使用了音圈电动机的、专利文献5所述的激光加工 装置,由于使用了球轴承,所以在可动部和球轴承之间产生静态摩擦阻 力,存在响应速度变慢的问题。另外,该激光加工装置在移动范围为几 百μm以下、特别是200μm以下的情况下,还存在产生超调(overshoot) 的问题。
发明内容
因此,本发明的主要目的在于提供一种能够高速且大范围地调整激 光束的聚光点位置的激光加工装置。
本发明所述的激光加工装置包括:保持构件,其用于保持作为加工 对象的工件;和加工构件,其向保持于上述保持构件的工件照射激光束, 在上述加工构件中至少设置有:振荡器,其振荡出上述激光束;聚光透 镜,其使上述激光束会聚于上述工件;可动部,其支承上述聚光透镜, 并且该可动部相对于上述工件在垂直方向上移动;固定部,其具有利用 气体来支承上述可动部的气体轴支承部,并且该固定部与上述可动部一 起构成音圈电动机;以及支承部件,其利用磁排斥作用从下方支承上述 可动部。
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