[发明专利]光源试验方法及其装置

权利要求书

1.光源试验方法，其特征在于：在没有外来杂散光或外来杂散光较小的可控温 的试验腔(1)内试验两个或两个以上被测光源(2)，可程控供电电源(3)按一定的 时序控制点亮或熄灭各个被测光源(2)；能接收每一个被测光源(2)发射光的同 一取样装置(4)采集各个被测光源(2)的光信号，并将采得的光信号送至测量仪 表(5)；测量仪表(5)和供电电源(3)通过程控联动，被测光源(2)和测量仪表(5) 按照一定的时序工作，测量仪表(5)测量被可程控供电电源(3)点亮的某一个或 某几个特定的被测光源(2)的光信号，直接或通过计算得到每一个被测光源(2) 在一定的试验条件和/或试验时间下的光学参数；所述的取样装置(4)为光度探 头或者光纤取样器。

2.根据权利要求1所述的光源试验方法，其特征在于：在试验过程中，某一被 测光源(2)点亮时其它被测光源(2)熄灭，测量仪表(5)在某个被测光源(2)点亮 时间内测量该被测光源(2)的光学参数。

3.根据权利要求1所述的光源试验方法，其特征在于：各个被点亮的被测光源 (2)依次熄灭，且最后一个被测光源(2)熄灭时，其它被测光源(2)仍处于同一周 期的熄灭状态；除第一个被测光源(2)外，测量仪表(5)在每个被测光源(2)熄灭 前而前一被测光源(2)熄灭后取样测量；最后一个被测光源(2)熄灭前的测量值 即为该被测光源(2)的光学参数，其它被测光源(2)的光学参数通过以下方法计 算：该光源熄灭前测得的光学参数减去下一光源熄灭前测得的相应量值，得 到该光源在该试验时刻的光学参数。

4.根据权利要求1所述的光源试验方法，其特征在于：所述的被测光源(2)以矩 阵形式排布，先逐行再逐列、或者先逐列再逐行点亮并测量被测光源(2)，根 据各次测量结果计算出每一个被测光源在本次测量周期的光学参数。

5.根据权利要求1或2或3或4所述的光源试验方法，其特征在于：在被测光 源(2)的试验过程中监测并控制被测光源(2)所处的环境温度。

6.根据权利要求1或2或3或4所述的光源试验方法，其特征在于在被测光源 (2)的试验过程中监测每个被测光源(2)的自身温度。

7.一种光源试验装置，其特征在于包括可控温的试验腔(1)，试验腔(1)内设置两 个或两个以上被测光源(2)，被测光源(2)与可程控供电电源(3)电连接，试验腔 (1)内设置能接收来自每一个被测光源(2)发射光的同一取样装置(4)，取样装置 (4)与测量仪表(5)相连接，测量仪表(5)和供电电源(1)置于试验腔(1)外，并且 测量仪表(5)和供电电源(1)与上位机(12)电连接，上位机(12)控制测量仪表(5) 和供电电源(3)程控联动，供电电源(3)控制被测光源(2)按照一定的时序工作； 所述的取样装置(4)为光度探头或者光纤取样器。

8.根据权利要求7所述的光源试验装置，其特征在于所述的取样装置(4)为与光 纤(6)相连的光纤取样器(4)，所述的测量仪表(5)为光度计或/和光谱辐射计。

9.根据权利要求7所述的光源试验装置，其特征在于所述的取样装置(4)为光度 探头，所述的测量仪表(5)为与光度探头相配合的光度计。

10.根据权利要求7所述的光源试验装置，其特征在于所述的试验腔(1)是具有温 度控制功能的试验腔，在试验腔(1)内设置监测腔内环境温度的环境温度探头 (7)，在每个被测光源(2)或与被测光源(2)相接触的夹具上设置一个或一个以上 光源温度测量探头(11)。