[发明专利]一种平面显示器及其测试方法

权利要求书

1.一种平面显示器的测试方法，其特征在于，所述方法包括步骤：

(a)形成一晶片放置区于一玻璃基板上，所述晶片放置区包括多个数据衬垫，所述多个数据衬垫包括一第一组数据衬垫以及一第二组数据衬垫，其中相邻的两个数据衬垫分别属于所述第一组数据衬垫以及所述第二组数据衬垫；

(b)形成一测试开关控制信号输入衬垫、一第一测试衬垫以及一第二测试衬垫于所述玻璃基板上；

(c)于所述晶片放置区之中形成多个测试开关单元，且每一测试开关单元包括一第一端、一第二端以及一控制端，其中每一测试开关单元的所述控制端耦接于所述测试开关控制信号输入衬垫，对应于所述第一组数据衬垫的测试开关单元的第一端耦接于所述第一组数据衬垫，对应于所述第一组数据衬垫的测试开关单元的第二端耦接于所述第一测试衬垫，对应于所述第二组数据衬垫的测试开关单元的第一端耦接于所述第二组数据衬垫，对应于所述第二组数据衬垫的测试开关单元的第二端耦接于所述第二测试衬垫；

(d)在晶片放置区上贴异向性导电膜，将驱动晶片的接脚置入对应晶片放置区上的数据衬垫而将一驱动晶片放置于所述晶片放置区内；以及

(e)当一测试开关控制信号输入所述测试开关控制信号输入衬垫时，测量所述第一测试衬垫与所述第二测试衬垫的电性参数值；

(f)当所述电性参数值表示所述第一测试衬垫与所述第二测试衬垫电性导通时，重新将所述驱动晶片放置于所述晶片放置区内。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述电性参数值为电流值或电压值。

3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，每一测试开关单元为一电晶体；

所述第一组数据衬垫以及所述第二组数据衬垫的数量相等；所述驱动晶片为一闸极驱动晶片，用于产生扫瞄信号；或者是所述驱动晶片为一源极驱动晶片，用于产生数据信号。

4.如权利要求3所述的方法，其特征在于，所述第一端为所述电晶体的汲极，所述第二端为所述电晶体的源极，所述控制端为所述电晶体的闸极。

5.一种平面显示器，其特征在于，所述平面显示器包括：

一玻璃基板；

一晶片放置区，形成于所述玻璃基板上，所述晶片放置区包括多个数据衬垫，所述多个数据衬垫包括一第一组数据衬垫以及一第二组数据衬垫，相邻的两个数据衬垫分别属于所述第一组数据衬垫以及所述第二组数据衬垫；

一驱动晶片，在晶片放置区上贴异向性导电膜，将驱动晶片的接脚置入对应晶片放置区上的数据衬垫而将该驱动晶片放置于所述晶片放置区上；

一测试开关控制信号输入衬垫，用于接收测试开关控制信号；

一第一测试衬垫和一第二测试衬垫，用于在所述测试开关控制信号输入时，测量电性参数值；以及

多个测试开关单元，每一测试开关单元包括一第一端、一第二端以及一控制端，每一测试开关单元的所述控制端耦接于所述测试开关控制信号输入衬垫，对应于所述第一组数据衬垫的测试开关单元的第一端耦接于所述第一组数据衬垫，对应于所述第一组数据衬垫的测试开关单元的第二端耦接于所述第一测试衬垫，对应于所述第二组数据衬垫的测试开关单元的第一端耦接于所述第二组数据衬垫，对应于所述第二组数据衬垫的测试开关单元的第二端耦接于所述第二测试衬垫；当所述电性参数值表示所述第一测试衬垫与所述第二测试衬垫电性导通时，重新将所述驱动晶片放置于所述晶片放置区内。

6.如权利要求5所述的平面显示器，其特征在于，所述电性参数值为一电流值或电压值；每一测试开关单元为一电晶体；所述第一组数据衬垫以及所述第二组数据衬垫的数量相等；所述第一测试衬垫以及对应于所述第一组数据衬垫的所述测试开关单元设置于所述玻璃基板上；所述第二测试衬垫以及对应于所述第二组数据衬垫的所述测试开关单元设置于所述玻璃基板或者所述驱动晶片上。

7.如权利要求6所述的平面显示器，其特征在于，所述第一端为所述电晶体的汲极，所述第二端为所述电晶体的源极，所述控制端为所述电晶体的闸极。

8.如权利要求5所述的平面显示器，其特征在于，所述平面显示器为液晶显示器。

9.如权利要求8所述的平面显示器，其特征在于，所述驱动晶片为一闸极驱动晶片，用于产生扫瞄信号；或者是所述驱动晶片为一源极驱动晶片，用于产生数据信号。