[发明专利]一种光平均波长的测量方法及装置

权利要求书

1、一种光平均波长的测量方法，其特征在于，包括：

将输入的光信号通过相位调制得到两路光，并使经过光纤环传输的两路光产生干涉；

接收干涉的光信号并将所述光信号转换成电信号，通过对电信号解调获得所述输入的光信号的平均波长。

2、根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述经过光纤环传输包括：将所述两路光分别通过对称绕制且入射方向相反的两个光纤环传输。

3、根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述输入的光信号的平均波长根据以下公式计算获得：

φ=πλ·ld·ΓUne3γ33;]]>

其中φ为光信号在Y波导中正反两方向传播的相位差，l为波导的长度，d为波导的厚度，λ为光源平均波长，U为调制电压，Γ为电场与光场的重叠因子，n_e为非寻常光折射率，γ₃₃为介电常数。

4、一种光平均波长的测量装置，其特征在于，包括：

光学调制单元，用于将输入的光信号进行相位调制得到两路光，并使经过光纤环传输的两路光产生干涉；

光电探测单元，用于接收干涉的光信号并将所述光信号转换成电信号，通过对电信号解调获得所述输入的光信号的平均波长。

5、根据权利要求4所述的装置，其特征在于，所述经过光纤环传输包括：将所述两路光分别通过对称绕制且入射方向相反的两个光纤环传输。

6、根据权利要求4所述的装置，其特征在于，所述输入的光信号的平均波长根据以下公式计算获得：

φ=πλ·ld·ΓUne3γ33;]]>

其中φ为光信号在Y波导中正反两方向传播的相位差，l为波导的长度，d为波导的厚度，λ为光源平均波长，U为调制电压，Γ为电场与光场的重叠因子，n_e为非寻常光折射率，γ₃₃为介电常数。