[发明专利]二氧化碳缓冲硅片打孔装置有效

专利信息
申请号: 200910083506.2 申请日: 2009-05-06
公开(公告)号: CN101880880A 公开(公告)日: 2010-11-10
发明(设计)人: 景玉鹏;惠瑜 申请(专利权)人: 中国科学院微电子研究所
主分类号: C23F1/12 分类号: C23F1/12
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 周国城
地址: 100029 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 二氧化碳 缓冲 硅片 打孔 装置
【权利要求书】:

1.一种二氧化碳缓冲硅片打孔装置,其特征在于,该装置包括二氧化碳流量控制器(1)、三氟化氯流量控制器(2)、混合器(3)、减压阀(4)、压力表(5)、真空泵(6)、真空腔室(7)、真空腔压力表(8)、喷头(9)、掩蔽板(10)、硅片架(11)、真空腔温度控制装置(12)、后级泵(13)和尾气处理装置(14),其中:减压阀(4)、真空泵(6)、真空腔压力表(8)、真空腔温度控制装置(12)和后级泵(13)分别连接于真空腔室(7),二氧化碳气体通过二氧化碳流量控制器(1)进入混合器(3),三氟化氯气体通过三氟化氯流量控制器(2)进入混合器(3),二氧化碳气体和三氟化氯气体在混合器(3)中进行混合,混合气体依次通过减压阀(4)和喷头(9)进入真空腔室(7),然后经过掩蔽板(10)的掩蔽和束流汇聚调节,对硅片架(11)上的硅片进行打孔;真空腔室(7)通过真空腔温度控制装置(12)将温度控制在室温环境下,刻蚀完的尾气通过后级泵(13)抽出真空腔室(7),并由后级泵(13)进入尾气处理装置(14)。

2.根据权利要求1所述的二氧化碳缓冲硅片打孔装置,其特征在于,所述三氟化氯气体作为刻蚀反应气体,所述二氧化碳气体作为缓冲剂。

3.根据权利要求1所述的二氧化碳缓冲硅片打孔装置,其特征在于,所述真空泵(6)对真空腔室(7)进行抽真空,将真空腔室(7)内的压力维持在10-7atm,通过真空腔压力表(8)监视真空腔室(7)内的压力。

4.根据权利要求1所述的二氧化碳缓冲硅片打孔装置,其特征在于,所述二氧化碳流量控制器(1)一端连接于存储二氧化碳气体的钢瓶,一端连接于混合器(3);所述三氟化氯流量控制器(2)一端连接于存储三氟化氯气体的钢瓶,一端连接于混合器(3)。

5.根据权利要求1所述的二氧化碳缓冲硅片打孔装置,其特征在于,所述二氧化碳和三氟化氯的混合气体经过减压阀(4)减压后压力减到10Pa,并通过压力表(5)指示压力,此时混合气体压力与背景压力比为1000。

6.根据权利要求1所述的二氧化碳缓冲硅片打孔装置,其特征在于,所述二氧化碳和三氟化氯的混合气体从喷头(9)喷出,经过掩蔽板(10)的掩蔽和束流汇聚调节,打到硅片架(11)上固定的硅片上,在三氟化氯气体的化学腐蚀的作用下,对硅片进行打孔。

7.根据权利要求1所述的二氧化碳缓冲硅片打孔装置,其特征在于,所述尾气处理装置(14)采用氢氧化钙或小苏打对尾气进行吸收处理。

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