[发明专利]太阳光跟踪传感器的方位设定、计测、再调整方法以及太阳光聚光装置无效

专利信息
申请号: 200880113948.0 申请日: 2008-10-30
公开(公告)号: CN101842644A 公开(公告)日: 2010-09-22
发明(设计)人: 江泽一明;奥幸之介;藤原一正;川口隆 申请(专利权)人: 三井造船株式会社
主分类号: F24J2/38 分类号: F24J2/38
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 闫小龙;蒋骏
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 太阳光 跟踪 传感器 方位 设定 再调整 方法 以及 聚光 装置
【权利要求书】:

1.一种太阳光跟踪传感器的方位设定方法,其特征在于,

在通过定日镜而被聚光的反射光的光轴上设置太阳光跟踪传感器,通过该太阳光跟踪传感器对定日镜的姿态进行自动控制之际,在上述光轴上设置太阳光跟踪导向器,以与该太阳光跟踪导向器的导向器轴成为同一轴的方式在太阳光跟踪导向器的后端部安装光学望远镜,以在该光学望远镜的视野中设置的+标记变为聚光目标位置的中心位置的方式调整上述太阳光跟踪导向器的姿态并固定到安装基座,接着,从太阳光跟踪导向器取下光学望远镜,以与太阳光跟踪导向器的导向器轴成为同一轴的方式在太阳光跟踪导向器的后端部安装太阳光跟踪传感器。

2.一种太阳光跟踪传感器的光轴偏移计测方法,其特征在于,

在通过定日镜而被聚光的反射光的光轴上设置太阳光跟踪传感器,通过该太阳光跟踪传感器对定日镜的姿态进行自动控制之际,在老化引起的太阳光跟踪传感器的光轴偏移发生时,在安装有上述太阳光跟踪传感器的太阳光跟踪导向器的前端部,以与太阳光跟踪导向器的导向器轴变成同一轴的方式安装激光振荡器,通过该激光振荡器使激光振荡而对聚光目标位置进行标刻,计测标刻点相对于上述光轴的偏移量。

3.一种太阳光跟踪传感器的再调整方法,其特征在于,

在通过定日镜而被聚光的反射光的光轴上设置太阳光跟踪传感器,通过该太阳光跟踪传感器对定日镜的姿态进行自动控制之际,在老化引起的太阳光跟踪传感器的光轴偏移发生时,在安装有上述太阳光跟踪传感器的太阳光跟踪导向器的前端部,以与太阳光跟踪导向器的导向器轴变成同一轴的方式安装激光振荡器,通过该激光振荡器使激光振荡而在聚光目标位置的进行标刻,以标刻点与上述聚光目标位置的中心位置一致的方式对上述太阳光跟踪导向器的姿态进行再调整。

4.一种太阳光采光装置,在通过定日镜而被聚光的反射光的光轴上设置太阳光跟踪传感器,通过该太阳光跟踪传感器对定日镜的姿态进行自动控制,其特征在于,将支撑上述太阳光跟踪传感器的太阳光跟踪传感器安装架台从定日镜设置基座分离,在定日镜设置基座的系统外对其进行设置。

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