[发明专利]失配衬底上的单晶生长有效

专利信息
申请号: 200880023660.4 申请日: 2008-07-07
公开(公告)号: CN101689484A 公开(公告)日: 2010-03-31
发明(设计)人: 奥拉夫·温尼克;拉尔斯·芒努斯·博里斯特伦;维贾亚拉格哈万·马达卡西拉 申请(专利权)人: NXP股份有限公司
主分类号: H01L21/20 分类号: H01L21/20
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 代理人: 王波波
地址: 荷兰艾*** 国省代码: 荷兰;NL
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摘要:
搜索关键词: 失配 衬底 生长
【权利要求书】:

1.一种将一种材料类型的单晶层形成在不同材料类型的衬底上 的方法,包括步骤:

(i)提供第一材料类型的衬底(5);

(ii)将催化剂材料(10)的至少一个不连续区域沉积到衬底上, 所述不连续区域限定了衬底的晶种区域(11);

(iii)将第二材料类型的单晶纳米线(12)生长到衬底上催化剂 材料的不连续区域处,所述第二材料类型的纳米线从衬底开始向上延 伸,其横向尺寸不超过晶种区域;以及

(iv)改变生长条件,使得第二材料类型的材料从所述单晶纳米 线开始在与衬底表面平行的方向上横向地外延生长,

其中,在步骤(iv)之后,所得到的第二材料层(15)的横向延 伸大于200nm。

2.根据权利要求1所述的方法,其中,所述第一材料类型是硅或 锗。

3.根据权利要求1所述的方法,其中,所述第二材料类型是III-V 或II-VI半导体材料或III族氧化物。

4.根据权利要求1所述的方法,其中,所述催化剂材料的不连续 区域在所述衬底上延伸并且限定直径为100nm或更小的晶种区域。

5.根据权利要求4所述的方法,其中,所述纳米线宽度或直径是 100nm或更小。

6.根据权利要求1所述的方法,还包括:在步骤(iii)之后且在 步骤(iv)之前,在衬底上围绕第二材料类型的纳米线形成阻挡层(14)。

7.根据权利要求6所述的方法,其中,所述阻挡层是非晶电绝缘 层。

8.根据权利要求1所述的方法,其中,在步骤(iii)期间,纳米 线是独立的。

9.根据权利要求1所述的方法,还包括步骤:

(v)从第二材料类型的材料的顶部去除催化剂材料。

10.根据权利要求1所述的方法,其中,步骤(ii)包括:将催化 剂材料的多个不连续区域以阵列(20)的形式沉积到衬底上。

11.根据权利要求10所述的方法,其中,在步骤(iii)和(iv) 中使用催化剂材料的每个不连续区域来在第二材料中形成有源区域 (21),所述方法还包括:在每个有源区域中或上形成至少一个电子器 件(25)。

12.根据权利要求10所述的方法,其中,使用光刻工艺或通过纳 米粒子的自组织来形成催化剂材料的每个不连续区域。

13.根据权利要求1所述的方法,还包括步骤:对第二材料类型 的材料掺入另一元素或化合物。

14.根据权利要求1所述的方法,其中,步骤(iv)包括:去除催 化剂材料以阻止纳米线进一步向上生长。

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