[发明专利]失配衬底上的单晶生长有效
申请号: | 200880023660.4 | 申请日: | 2008-07-07 |
公开(公告)号: | CN101689484A | 公开(公告)日: | 2010-03-31 |
发明(设计)人: | 奥拉夫·温尼克;拉尔斯·芒努斯·博里斯特伦;维贾亚拉格哈万·马达卡西拉 | 申请(专利权)人: | NXP股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/20 | 分类号: | H01L21/20 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人: | 王波波 |
地址: | 荷兰艾*** | 国省代码: | 荷兰;NL |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 失配 衬底 生长 | ||
1.一种将一种材料类型的单晶层形成在不同材料类型的衬底上 的方法,包括步骤:
(i)提供第一材料类型的衬底(5);
(ii)将催化剂材料(10)的至少一个不连续区域沉积到衬底上, 所述不连续区域限定了衬底的晶种区域(11);
(iii)将第二材料类型的单晶纳米线(12)生长到衬底上催化剂 材料的不连续区域处,所述第二材料类型的纳米线从衬底开始向上延 伸,其横向尺寸不超过晶种区域;以及
(iv)改变生长条件,使得第二材料类型的材料从所述单晶纳米 线开始在与衬底表面平行的方向上横向地外延生长,
其中,在步骤(iv)之后,所得到的第二材料层(15)的横向延 伸大于200nm。
2.根据权利要求1所述的方法,其中,所述第一材料类型是硅或 锗。
3.根据权利要求1所述的方法,其中,所述第二材料类型是III-V 或II-VI半导体材料或III族氧化物。
4.根据权利要求1所述的方法,其中,所述催化剂材料的不连续 区域在所述衬底上延伸并且限定直径为100nm或更小的晶种区域。
5.根据权利要求4所述的方法,其中,所述纳米线宽度或直径是 100nm或更小。
6.根据权利要求1所述的方法,还包括:在步骤(iii)之后且在 步骤(iv)之前,在衬底上围绕第二材料类型的纳米线形成阻挡层(14)。
7.根据权利要求6所述的方法,其中,所述阻挡层是非晶电绝缘 层。
8.根据权利要求1所述的方法,其中,在步骤(iii)期间,纳米 线是独立的。
9.根据权利要求1所述的方法,还包括步骤:
(v)从第二材料类型的材料的顶部去除催化剂材料。
10.根据权利要求1所述的方法,其中,步骤(ii)包括:将催化 剂材料的多个不连续区域以阵列(20)的形式沉积到衬底上。
11.根据权利要求10所述的方法,其中,在步骤(iii)和(iv) 中使用催化剂材料的每个不连续区域来在第二材料中形成有源区域 (21),所述方法还包括:在每个有源区域中或上形成至少一个电子器 件(25)。
12.根据权利要求10所述的方法,其中,使用光刻工艺或通过纳 米粒子的自组织来形成催化剂材料的每个不连续区域。
13.根据权利要求1所述的方法,还包括步骤:对第二材料类型 的材料掺入另一元素或化合物。
14.根据权利要求1所述的方法,其中,步骤(iv)包括:去除催 化剂材料以阻止纳米线进一步向上生长。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造