[发明专利]计算的断层摄影检查无效

专利信息
申请号: 200880005304.X 申请日: 2008-02-12
公开(公告)号: CN101617246A 公开(公告)日: 2009-12-30
发明(设计)人: J·-P·施洛姆卡 申请(专利权)人: 皇家飞利浦电子股份有限公司
主分类号: G01T1/164 分类号: G01T1/164;G01V5/00
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 龚海军;刘 红
地址: 荷兰艾*** 国省代码: 荷兰;NL
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摘要:
搜索关键词: 计算 断层 摄影 检查
【说明书】:

技术领域

本申请总的涉及成像系统。虽然本申请对于安全检查有特定应用,但是其还涉及其他应用,其中所希望的是获得指示被检物体内的感兴趣材料的信息。

背景技术

X射线计算的断层摄影(CT)系统已经用于安全检查应用以检查比如行李之类的物体从而探测该行李内武器、爆炸物或可能造成安全威胁的其他违禁品的存在。

常规地,CT系统已经生成指示被检查的物体的辐射衰减的体积图像数据。不幸的是,一些违禁材料的辐射衰减特性可能与合法材料的辐射衰减特性相似,从而使得安全检查任务变得复杂。

相干散射CT(CSCT)系统也已经用于安全筛选应用。这些测量弹性x射线散射的能量和空间分布的系统可以例如提供对物体的分子结构相对更加明确的指示,从而更确定地探测违禁材料的存在。更具体地,将被检物体的x射线衍射图案与存储的感兴趣的一种(或多种)违禁材料和/或合法材料的一个(或多个)衍射图案相比较。该附加信息可以用于更好地确定该物体是否包含违禁品。

Schlomka等人的美国公布2006/0083346公开了包括CT系统和CSCT系统的行李检查系统的实例。

虽然基于辐射衰减系数和x射线衍射图案的检查技术已经用于探测行李中违禁材料的存在,但是仍存在这样的情况:其中所希望的是获得关于被检查物体的其他附加信息。

本申请的各个方面解决上述问题和其他问题。

发明内容

根据一个方面,一种方法包括:探测来自x射线源的横贯检查区域和其中的物体的透射辐射和来自该物体中放射性材料的发射辐射;生成指示所探测的辐射的信号;能量分解所探测的辐射;以及处理能量分解的辐射以识别具有对应于放射性材料的能量的探测的辐射。

根据另一个方面,一种系统包括产生横贯检查区域和置于其中的物体的透射辐射的x射线源。一种能量分解探测器探测相干散射的透射辐射和由该物体中的放射性材料发射的发射辐射,并且生成指示探测的辐射的数据。一种衍射处理器处理所述数据以生成指示相干散射辐射的衍射图案。一种处理组件处理能量分解的辐射以识别具有对应于放射性材料的能量的探测的辐射。

根据另一方面,一种计算机可读存储介质包括指令,当该指令被计算机执行时,导致下列步骤:探测来自x射线源的横贯检查区域和其中的物体的透射辐射和来自该物体中放射性材料的发射辐射;生成指示所探测的辐射的信号;能量分解所探测的辐射;以及处理能量分解的辐射以识别具有对应于放射性材料的能量的探测的辐射。

本领域普通技术人员通过阅读并理解下面的详细描述,将会理解本发明的其他方面。

本发明可以具体化为各种组件和组件的布置,以及具体化为各个步骤和步骤的安排。附图仅仅是为了说明优选实施例的目的,并且不应当被解释为限制本发明。

附图说明

图1示出示范性成像系统;

图2示出示范性方法。

具体实施方式

参照图1,计算的断层摄影(CT)扫描仪100包括旋转机架(gantry)部分104,其包围检查区域108的周界并绕旋转轴旋转。

旋转机架部分104支撑x-射线探测器112,该探测器112探测从检查区域108中发射出的辐射,该辐射包括来自x射线源116的透射辐射(初级辐射和相干散射辐射)和来自布置在检查区域108内的衰变的放射性材料或核材料的发射辐射,并且所述探测器112生成指示这些辐射的数据或信号。准直器薄片在检查区域108内定位于探测器112的旁边,以阻止源自检查区域108外部的区中的辐射撞击探测器112。

x射线探测器112包括通常二维的探测器元件的矩阵,所述矩阵包括通常正交于旋转轴的探测器元件的多个行120和通常平行于旋转轴的探测器元件的多个列128。

在所示的实施例中,探测器112是能量分解探测器,其并行地测量在多个能量范围或仓(bin)中接收到的辐射的强度。在一种实现方式中,一个或多个仓的能量范围有利地对应于由一种或多种感兴趣的放射性材料发射的衰变辐射的能量特性。

合适的能量分解探测器包括直接转换探测器,比如碲锌镉(CdZnTe,或CZT)探测器或碲化镉(CdTe)探测器,或具有能量分解能力的其他探测器。可以可替代地使用多个闪烁或直接转换探测器或其他能量分解技术单独地或以组合方式实现探测器112。

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