[发明专利]计算的断层摄影检查无效

专利信息
申请号: 200880005304.X 申请日: 2008-02-12
公开(公告)号: CN101617246A 公开(公告)日: 2009-12-30
发明(设计)人: J·-P·施洛姆卡 申请(专利权)人: 皇家飞利浦电子股份有限公司
主分类号: G01T1/164 分类号: G01T1/164;G01V5/00
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 龚海军;刘 红
地址: 荷兰艾*** 国省代码: 荷兰;NL
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摘要:
搜索关键词: 计算 断层 摄影 检查
【权利要求书】:

1.一种方法,包括:

探测来自x射线源(116)的横贯检查区域(108)和其中的物体的透射辐射和来自该物体中的放射性材料的发射辐射;

生成指示所探测的辐射的信号;

能量分解所探测的辐射;以及

处理该能量分解的辐射以识别具有对应于所述发射辐射的能量的能量的探测的辐射。

2.权利要求1的方法,其中处理所述能量分解的辐射的步骤包括识别具有高于x射线源(116)的加速电压的能量的辐射。

3.权利要求1的方法,其中处理所述能量分解的辐射的步骤包括识别具有强度峰值的能量仓。

4.权利要求1的方法,其中处理所述能量分解的辐射的步骤包括比较具有对应于所述放射性材料的能量范围的能量仓的强度信息与至少一个其他能量仓的强度信息。

5.权利要求1的方法,其中处理能量分解的辐射的步骤包括计算能量仓之间的强度差。

6.权利要求1的方法,其中探测的透射辐射包括相干散射辐射,并且该方法进一步包括从所述相干散射辐射生成指示所述物体的衍射图案,其中所述衍射图案用于识别所述物体中的违禁品。

7.权利要求1的方法,进一步包括关闭x射线源(116)和阻止所述透射辐射照射所述探测器(112)之一,同时探测所述发射辐射。

8.权利要求1的方法,进一步包括使用直接转换探测器和多个闪烁探测器两者之一来探测辐射。

9.权利要求1的方法,其中所述物体包括行李。

10.权利要求1的方法,其中探测的透射辐射包括相干散射辐射,并且进一步包括重构指示相干散射辐射的数据以生成包括该物体的衰减系数的图像数据。

11.权利要求1的方法,其中探测的透射辐射包括初级辐射,并且进一步包括重构指示该初级辐射的数据以生成包括该物体的衰减系数的图像数据。

12.权利要求1的方法,其中所述透射和发射辐射仅被一个公共探测器探测。

13.权利要求1的方法,其中所述x射线源(116)和探测器(112)被放置在绕所述检查区域旋转的旋转机架(104)上。

14.一种系统,包括:

x射线源(116),其产生横贯所述检查区域(108)和置于其中的物体的透射辐射;

能量分解探测器(112),其探测相干散射的透射辐射和由所述物体中的放射性材料发射的发射辐射,并且生成指示探测的辐射的数据;

衍射处理器(152),其处理所述数据以生成指示所述相干散射辐射的衍射图案;以及

处理组件(160),其处理所述能量分解的辐射以识别具有对应于发射辐射的能量的能量的探测的辐射。

15.权利要求14的系统,其中所述系统是行李检查系统。

16.权利要求14的系统,其中所述系统包括相干散射计算的断层摄影扫描仪。

17.权利要求14的系统,其中所述x射线源(116)和能量分解探测器(112)被放置在绕所述检查区域旋转的旋转机架(104)上。

18.一种包含指令的计算机可读存储介质,当该指令被计算机执行时导致下列步骤:

探测来自x射线源(116)的横贯检查区域(108)和其中的物体的透射辐射和来自该物体中的放射性材料的发射辐射;

生成指示所探测的辐射的信号;

能量分解所探测的辐射;以及

处理该能量分解的辐射以识别具有对应于所述放射性材料的能量的探测的辐射。

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