[实用新型]一种易测量的液晶显示用TFT阵列基板无效
| 申请号： | 200820054577.0 | 申请日： | 2008-01-09 |
| 公开（公告）号： | CN201145800Y | 公开（公告）日： | 2008-11-05 |
| 发明（设计）人： | 杨海鹏 | 申请（专利权）人： | 上海广电光电子有限公司 |
| 主分类号： | G02F1/1362 | 分类号： | G02F1/1362;G02F1/13;G01R31/00 |
| 代理公司： | 上海申汇专利代理有限公司 | 代理人： | 白璧华 |
| 地址： | 200233上*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 测量 液晶显示 tft 阵列 | ||
【权利要求书】：
1.一种易测量的液晶显示用TFT阵列基板，包括共通电极、绝缘层和钝化层、像素电极层和封框胶，其特征在于：在所述的像素电极层还设置有ITO测试块，测试块和共通电极电连接，测试块的外侧测量端暴露于封框胶之外。
2.根据权利要求1所述的易测量的液晶显示用TFT阵列基板，其特征在于：所述的ITO测试块设置于绝缘层和钝化层的上方，测试块通过接触孔和共通电极电连接。
3.根据权利要求1所述的易测量的液晶显示用TFT阵列基板，其特征在于：所述的共通电极设置有外围大于封框胶外围的外延端块，在共通电极的外延端块上方的绝缘层和钝化层刻蚀设置有开口，开口内设置有与共通电极电连接的ITO测试块。
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