[发明专利]测量数据处理系统及其处理方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种测量数据处理系统，尤其涉及一种储存测量工具的测量数据于记忆卡的系统及储存测量数据与删除测量数据的方法。

背景技术

多种数字式测量工具，例如：光标卡尺及内外径分厘卡等，已被广泛地运用在工厂自动化生产中，在实际使用时，测量人员通常以书面的方式记录下数字式测量工具的数据来，再汇整成报表。或是，测量人员手动输入数字式测量工具的数据于计算机内，再汇整成报表。

但是，目前记录测量数据的方式有以下缺点：

第一，测量人员需手动地记录测量数据于书面中，或是手动地输入测量数据于计算机内，所以测量人员容易误记测量数据；

第二，测量人员以手动的方式记录或输入测量数据时，需耗费做纪录的时间；及

第三，当测量数据错误并需修改时，须耗费修改的时间。

发明内容

本发明的目的之一在于针对上述技术存在的缺陷提供一种结构简单、使用容易的测量数据处理系统。

为达到上述目的，本发明所提供的测量数据处理系统用以读取数字测量工具的测量数据，并将测量数据储存于记忆卡中，该测量数据处理系统包括微处理单元、第一开关单元、第二开关单元及卡连接器，第一开关单元接受外部控制而发出触发信号至测量工具，使测量工具送出测量数据信号，微处理单元侦测到第一开关单元的触发信号后，接收测量工具的测量数据信号，卡连接器连接并收容记忆卡，微处理单元发出的测量数据信号通过卡连接器被储存至记忆卡中，第二开关单元接受外部控制而发出一触发信号至微处理单元，微处理单元侦测到第二开关单元的触发信号后，删除记忆卡内的测量数据。

本发明的另一目的在于提供一种上述测量数据处理系统的测量数据处理方法，用以接收测量工具发出的测量数据信号，并将测量数据信号储存在记忆卡中，以及删除记忆卡中所储存的测量数据。

为达到上述目的，本发明所提供的测量数据处理方法包括以下步骤：

步骤一：系统初始化；

步骤二：侦测触发信号，若第一开关单元发出触发信号，执行步骤三，若第二开关单元发出触发信号，执行步骤六；

步骤三：判断记忆卡状态，若记忆卡状态为正常，执行步骤四，若记忆卡状态为异常，执行步骤二；

步骤四：判断记忆卡中的数据，若储存于记忆卡的数据为正常，执行步骤五，若储存于记忆卡的数据为异常，执行步骤二；

步骤五：储存测量数据信号至记忆卡中；

步骤六：判断记忆卡状态，若记忆卡状态为正常，执行步骤七，若记忆卡状态为异常，执行步骤二；

步骤七：判断记忆卡中的数据，若储存于记忆卡的数据为正常，执行步骤八，若记忆卡状态为异常，执行步骤二；及

步骤八：删除记忆卡的数据。

本发明测量数据处理系统通过控制第一开关单元以储存测量数据信号于记忆卡中，控制第二开关单元以删除记忆卡的测量数据，且记忆卡可随身携带，在汇整成报表时，仅需将记忆卡连接至个人计算机，即可读取测量数据，制成报表。不仅克服以前技术的费时及耗工的缺点，更具有结构简单、使用容易等优点。

附图说明

在说明书附图中：

图1为本发明测量数据处理系统连接测量工具及记忆卡的示意图。

图2为本发明测量数据处理系统第一实施例的方框图。

图3为图2所示测量数据处理系统第一开关单元与第二开关单元的触发信号波形。

图4为测量工具的测量数据信号的封包格式。

图5为测量工具的测量数据信号的另一种封包格式。

图6为本发明测数据处理系统第二实施例的方框图。

图7为本发明测量数据处理方法的步骤流程图。

图8为本发明测量数据处理方法中系统初始化的步骤流程图。

图9为本发明测量数据处理方法中设定输出端口与输入埠的步骤流程图。

图10为SD卡的脚位定义表。

图11为本发明测量数据处理方法中判断记忆卡状态的步骤流程图。

图12为本发明测量数据处理方法中判断数据状态的步骤流程图。

图13为本发明测量数据处理方法中储存测量数据信号的步骤流程图。

图14为本发明测量数据处理方法中删除测量数据的步骤流程图。

图中各附图标记说明如下：

测量数据处理系统    100      微处理单元      1

第一开关单元        2        第二开关单元    3

卡连接器            4        准位转换单元    5

电源转换单元        6        数字测量工具    8