[发明专利]一种实时测量纳米材料光致伸缩性能的方法无效

专利信息
申请号: 200810030573.3 申请日: 2008-01-30
公开(公告)号: CN101266236A 公开(公告)日: 2008-09-17
发明(设计)人: 郑学军;陈义强;王甲世;龚伦军;余功成 申请(专利权)人: 湘潭大学
主分类号: G01N33/00 分类号: G01N33/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 4111*** 国省代码: 湖南;43
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摘要:
搜索关键词: 一种 实时 测量 纳米 材料 伸缩 性能 方法
【权利要求书】:

1.一种实时测量纳米材料光致伸缩性能的方法,其特征在于,包括下述步 骤:

(1)采用三片电容板传感纳米探针技术对纳米材料定位和成像,找到纳米 材料光滑平整表面,确定纳米材料沿压入方向的厚度;

(2)对单个氧化锌纳米带纳米材料,实施原位压入保载实验,加载时间为10 s,加载速率为4μN/s,保载时间延长为90s,保持压痕载荷为40μN,卸载 时间设置为10s,卸载速率为4μN/s;其中,在延长的保载时间阶段将功率 密度为0.8mW/cm2入射白光束引入纳米探针装置,光束入射到金刚石纳米探针 与纳米材料相接触区域;

对单个硫化锌纳米带纳米材料,实施原位压入保载实验,加载时间为10s, 加载速率为0.5μN/s,保载时间延长为60s,保持压痕载荷为5μN,卸载时 间设置为10s,卸载速率为0.5μN/s;其中,在延长的保载时间阶段将功率 密度为0.2mW/cm2入射紫外光束引入纳米探针装置,光束入射到金刚石纳米探 针与纳米材料相接触区域;

在延长的保载时间阶段控制入射光束“开”15秒与“关”15秒交替变 化,记录探针压痕位移-时间变化曲线;从该曲线上计算光照开始和结束时的 位移值之差,为纳米材料沿压入方向的光致变形量;

(3)由纳米材料的光致变形量与其厚度的百分比得到光致伸缩应变,该光 致伸缩应变即为纳米材料的光致伸缩性能。

2.如权利要求1所述的一种实时测量纳米材料光致伸缩性能的方法,其 特征在于,光束经压电传感器的双平面镜窗口反射后,入射到金刚石纳米探针 与纳米材料相接触区域。

3.如权利要求1所述的一种实时测量纳米材料光致伸缩性能的方法,其 特征在于,纳米探针为维氏或努氏探针。

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