[发明专利]检测装置及检测方法

说明书

技术领域

本发明是有关于一种检测装置及检测方法，且特别是有关于一种用于显示面板的相位差值与穿透率的检测装置及检测方法。

背景技术

现今社会多媒体技术相当发达，多半受惠于半导体元件与显示装置的进步。就显示器而言，具有高画质、空间利用效率佳、低消耗功率、无辐射等优越特性的液晶显示器已逐渐成为市场的主流。

以薄膜晶体管液晶显示模组(TFT-LCD module)而言，其主要由一液晶显示面板(liquid crystal display panel)及一背光模组(backlight module)所构成。其中，液晶显示面板通常是由一薄膜晶体管阵列基板(thin film transistor arraysubstrate)、一彩色滤光基板(color filter substrate)与配置于此两基板间的一液晶层所构成，而背光模组用以提供此液晶显示面板所需的面光源，以使液晶显示模组达到所需的显示效果。

通常一片显示面板制作完成后，显示面板的相位差值(Retardation value)已经固定。虽然相位差值与显示面板的穿透率有一定的关系，但由于光源所发出的光在通过显示面板时都会产生耗损，因此所得到的显示面板的穿透率通常低于显示面板实际上的穿透率。举例来说，以激光穿透过显示面板，再将激光原本的强度除以激光通过显示面板后的强度，以得知此显示面板的穿透率。理想上，穿透率已知便可而推得相位差值。然而，由于显示面板中的玻璃基板、液晶、偏光片(polarizer)、解析膜片(analyzer)与像素电极都可能吸收或反射激光，而使激光的强度衰减。因此，将激光原本的强度除以激光通过显示面板后的强度，进而推得的相位差值并不正确。

也就是说，利用此方法所得到的相位差值并无法代表显示面板实际上的相位差值。因此，发展出旋转偏光片的测量法，如中国台湾专利号TW00440737，但此种方法需要复杂的控制系统来控制偏光片的旋转。此种测量法的精度取决于控制偏光片转动的精度。

发明内容

本发明提供一种检测装置，可检测显示面板的穿透率。

本发明另提供一种检测方法，可应用上述检测装置以检测显示面板的穿透率与相位差值。

本发明提出一种检测装置，其适于检测一显示面板的穿透率。此检测装置包括一光源、一第一偏光片、一光检测器、一第二偏光片、至少一第一反射镜与至少一第二反射镜，其中光源配置于显示面板的一侧，且显示面板位于光源的光路径上。第一偏光片配置于显示面板与光源之间，且第一偏光片位于光源的光路径上。光检测器位于光源的光路径上，且光检测器与第一偏光片分别位于显示面板的两侧。第二偏光片配置于显示面板与光检测器之间，且第二偏光片位于光源的光路径上。第一反射镜配置于显示面板与第二偏光片之间。第二反射镜配置于显示面板与第一偏光片之间，且第一反射镜的数量与第二反射镜的数量相等。光源所发出的光依序经过第一偏光片、显示面板、第一反射镜、显示面板、第二反射镜、显示面板与第二偏光片而入射至光检测器。

在本发明的检测装置中，光源为一激光源。

在本发明的检测装置中，光检测器为一电荷耦合元件光检测器(CCDphotodetector)。

在本发明的检测装置中，光检测器为一互补式金属氧化物半导体光检测器(CMOS photodetector)。

在本发明的检测装置中，光检测器为一光电二极管光检测器(photodiodephotodetector)。

在本发明的检测装置中，显示面板为一扭转向列型液晶面板。

本发明提出一种检测方法，其适于检测一显示面板的一相位差值与一穿透率。此检测方法包括下列步骤。提供一上述的检测装置，并将显示面板置于第一反射镜与第二反射镜之间。使用光源照射显示面板，并以光检测器测量一光强度T(1)与一光强度T(N)，其中光强度T(1)代表光源所发出的光线仅穿过一次显示面板所量得的光强度，且光强度T(N)代表光源所发出的光线借由第一反射镜与第二反射镜穿过N次显示面板所量得的光强度。提供一已知的穿透率与相位差值的曲线，而光源所发出的光线经过显示面板的耗损率为L，而L＝[A-T(1)]/A，其中A代表光源所发出的光只通过第一偏光片与第二偏光片未经过面板所量得的光强度，且显示面板的穿透率Tr为：