[发明专利]检测装置及检测方法无效

专利信息
申请号: 200810001242.7 申请日: 2008-01-10
公开(公告)号: CN101482444A 公开(公告)日: 2009-07-15
发明(设计)人: 吴俊纬;胡正中;黄秋蓉;张照松;李奂亭 申请(专利权)人: 中华映管股份有限公司
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02;G02F1/13;G09G3/00;G01J1/42
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 代理人: 陈 亮
地址: 台湾省台北*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 检测 装置 方法
【权利要求书】:

1.一种检测装置,适于检测一显示面板的一穿透率,该检测装置包括:

一光源,配置于该显示面板的一侧,且该显示面板位于该光源的光路径上;

一第一偏光片,配置于该显示面板与该光源之间,且该第一偏光片位于该光源的光路径上;

一光检测器,位于该光源的光路径上,且该光检测器与该第一偏光片分别位于该显示面板的两侧;

一第二偏光片,配置于该显示面板与该光检测器之间,且该第二偏光片位于该光源的光路径上;

至少一第一反射镜,配置于该显示面板与该第二偏光片之间;以及

至少一第二反射镜,配置于该显示面板与该第一偏光片之间,且该至少一第一反射镜的数量与该至少一第二反射镜的数量相等,其中该光源所发出的光依序经过该第一偏光片、该显示面板、该第一反射镜、该显示面板、该第二反射镜、该显示面板与该第二偏光片而入射至该光检测器。

2.如权利要求1所述的检测装置,其特征在于,该光源为一激光源。

3.如权利要求1所述的检测装置,其特征在于,该光检测器为一电荷耦合元件光检测器。

4.如权利要求1所述的检测装置,其特征在于,该光检测器为一互补式金属氧化物半导体光检测器。

5.如权利要求1所述的检测装置,其特征在于,该光检测器为一光电二极管光检测器。

6.如权利要求1所述的检测装置,其特征在于,该显示面板为一扭转向列型显示面板。

7.一种检测方法,适于检测一显示面板的一相位差值与一穿透率,该检测方法包括:

提供一如权利要求1所述的检测装置,并将该显示面板置于该第一反射镜与该第二反射镜之间;

使用该光源照射该显示面板,并以该光检测器测量一光强度T(1)与一光强度T(N),其中该光强度T(1)代表该光源所发出的光线仅穿过一次该显示面板所量得的光强度,且该光强度T(N)代表该光源所发出的光线借由该第一反射镜与该第二反射镜穿过N次该显示面板所量得的光强度;

提供一已知的穿透率与相位差值的曲线,而该光源所发出的光线经过该显示面板的耗损率为L,而L=[A-T(1)]/A,其中A代表该光源所发出的光只通过该第一偏光片与该第二偏光片所量得的光强度,且该显示面板的该穿透率Tr为:

Tr=T(1)(1-LN-1)T(N)]]>;以及

借由该已知的穿透率与相位差值的曲线,得到该显示面板的该相位差值。

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