[发明专利]具有可控参考物质供应的微电子器件

权利要求书

1、一种用于操纵化验物质(1，2，3，21，22，23)的微电子器件(100)， 包括：

a)样品室(5)，可以在其中提供所述化验物质(1，2，3，21，22， 23)；

b)供应单元(20)，用于以受控方式从储藏器向所述样品室(5)中释 放参考物质(21，22，23)。

2、根据权利要求1所述的微电子器件(100)，

其特征在于，所述储藏器位于所述样品室(5)中。

3、根据权利要求1所述的微电子器件(100)，

其特征在于，所述供应单元(20)包括场发生器，尤其是集成到所述 微电子器件(100)的衬底中的电极(24)，用于在所述储藏器中产生磁场 和/或电场。

4、根据权利要求1所述的微电子器件(100)，

其特征在于，所述储藏器被一种材料覆盖，俘获膜或薄片，可以通过 在所述储藏器中的参考物质(21，22，23)上施加排斥力以使所述膜或薄 片破裂或将其去除。

5、根据权利要求1所述的微电子器件(100)，

其特征在于，包括至少一个引导电极，所述引导电极用于产生磁场或 电场，所述磁场或电场能够将磁交互或电交互颗粒从所述储藏器引导到所 述样品室(5)中的目标位置。

6、根据权利要求5所述的微电子器件(100)，

其特征在于，包括若干这种引导电极以及用于依次激活它们的控制器。

7、根据权利要求1所述的微电子器件(100)，

其特征在于，为所述供应单元(20)的储藏器供应参考物质(21，22， 23)。

8、根据权利要求1所述的微电子器件(100)，

其特征在于，包括用于测量所述化验物质(1，2，3，21，22，23)的 特性特征的传感器单元(10)。

9、根据权利要求8所述的微电子器件(100)，

其特征在于，所述传感器单元(10)包括用于在所述样品室(5)中产 生磁场的磁场发生器(11，13)和磁性传感器元件(12)。

10、根据权利要求1所述的微电子器件(100)，

其特征在于，所述样品室(5)具有入口，所述入口用于为所述样品室 (5)提供所述化验物质或其成分(1，2)。

11、一种用于操纵样品室(5)中的化验物质(1，2，3，21，22，23) 的方法，包括从储藏器向所述样品室(5)中受控释放已知量的参考物质(21， 22，23)。

12、根据权利要求11所述的方法，

其特征在于，包括用传感器单元(10)测量所述化验物质(1，2，3， 21，22，23)的特性特征。

13、根据权利要求12所述的方法，

其特征在于，所述化验物质包括磁交互或电交互的标记颗粒(2)，所 述标记颗粒(2)可结合到或已结合到所述化验物质的目标成分(1)。

14、根据权利要求12所述的方法，

其特征在于，包括基于所述参考物质(21，22，23)的受控释放而对 所述传感器单元(10)进行误差检查和/或校准。

15、根据权利要求11所述的方法，

其特征在于，在已经将所述化验物质或其成分(1，2)引入所述样品 室(5)之后的预定时间进行所述参考物质(21，22，23)的所述释放。

16、根据权利要求1所述的微电子器件(100)或根据权利要求11所 述的方法，

其特征在于，所述样品室(5)的表面(14)包括用于固定所述化验物 质的目标成分(1，2，21，22)的结合位置(3)。

17、根据权利要求16所述的微电子器件(100)或方法，

其特征在于，所述参考物质包括可以被所述结合位置结合的参考目标 成分(21)。