[实用新型]44线陶瓷小外形封装集成电路老化测试插座

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种微电子元器件老化测试装置，尤其能对44线陶瓷小外形封装集成电路元器件可靠性进行高温老化试验和测试的插座。

背景技术

目前，在我国可靠性技术领域，国内老化试验插座系列产品本体材料采用的是非耐高温普通工程塑料，在对被测器件进行测试时，老化工作温度仅为-25℃～+85℃，且老化工作时间短暂，插座接触件表面镀银，结构简单，存在着与被测器件之间接触电阻大、耐环境弱、一致性不高和机械寿命不长的重大缺陷。在我国微电子元器件可靠性领域，陶瓷小外形封装集成电路元器件高端技术产品，因无高温老化可靠性试验的专用装置，不能满足对器件性能指标的测试要求，容易引发工程质量事故。

发明内容

为克服现有老化试验插座在接触电阻、耐高温和一致性以及使用寿命方面的不足，本实用新型提供一种高温老化测试试验插座。该插座不仅能将老化工作温度范围从-25℃～+85℃扩大到-55℃～+150℃，一次老化连续工作时间长达1000h(150℃)以上，插拔寿命5000次以上，而且在对被测试器件进行高温老化试验和性能测试过程中，具有接触电阻小、一致性好、可靠性高、使用方便、表面耐磨和零插拔力的优点，大大提高了插座的可靠性和使用寿命。

本实用新型解决技术问题所采用的技术方案是：按照44线陶瓷小外形封装集成电路元器件的结构设计和尺寸要求，将插座设计成两大组成部分，即插座体、接触件。插座体由座、盖和钩组成，选用进口的耐高温型特种工程塑料，经高温注塑成型工艺技术制造成插座本体，用于被试器件的定位安装，同时插座体可起压紧装置作用，当钩受力向下翻转与座啮合时，盖产生位移，从而使被试器件压紧接触件；接触件由铍青铜材料冲压成型，经300℃高温淬火处理及电镀硬金层技术表面镀金，由前后脚簧片交替排列、与被试器件引出线相对应的方式，采用中心对称、纵向排列形式组成，通电后进行高温老化试验和性能测试。这种翻盖式机构把接触件设计成零插拔力的结构，以避免接触件插拔时磨损电镀层，影响电接触性能，彻底解决了在高温老化试验和性能测试过程中的接触电阻大、耐环境弱、一致性差和机械寿命不长的技术难点；同时该实用新型可满足44线内被试器件不同引线的要求。

本实用新型的有益效果是：该实用新型可以满足军民通用44线型和其它同类陶瓷小外形封装集成电路元器件高温老化试验和性能测试，填补了国内空白，替代进口，为国家节约了外汇，为用户节约了成本，可以获得较大的经济效益和社会效益。

附图说明

下面结合附图和实例对本实用新型作进一步说明。

图1是本实用新型的外形结构纵剖面构造图。

图2是本实用新型外型结构俯视图。

图1：1钩  2压簧  3盖  4扭簧  5轴  6前脚簧片  7后脚簧片  8座

具体实施方式

在图1中，第一步：将接触件即前脚簧片6和后脚簧片7按与被试器件引出线相对应结构插入座8中；将钩1、压簧2和轴5装入盖3内；第二步：再将装好的盖3、扭簧4和轴5装入座8内。

该方案中，插座体用于被试器件的安装定位，同时还起着压紧装置的作用，当钩受力向下翻转与座啮合时，被试器件自动压紧接触件；接触件由镀金簧片按与被试器件引出线相对应、自动压紧和零插拔力结构安装于插座体的座中。