[实用新型]44线陶瓷小外形封装集成电路老化测试插座无效
申请号: | 200720109200.6 | 申请日: | 2007-05-10 |
公开(公告)号: | CN201112794Y | 公开(公告)日: | 2008-09-10 |
发明(设计)人: | 曹宏国 | 申请(专利权)人: | 曹宏国 |
主分类号: | H01R13/46 | 分类号: | H01R13/46;H01R13/11;H01R13/639;H01R13/629;G01R1/02;G01R31/26 |
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地址: | 313119浙江省*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 44 陶瓷 外形 封装 集成电路 老化 测试 插座 | ||
1. 一种适用于44线陶瓷小外形封装集成电路老化测试插座,其特征是:它是由插座体和接触件两个部分统一组成,插座体由座、盖和钩组成,选用进口的耐高温型特种工程塑料,经高温注塑成型工艺技术制造成插座本体,用于被试器件的定位安装,同时插座体还起着扣紧装置的作用,接触件与被试器件引出线相对应并安装于插座体的座中。
2. 根据权利要求1所述的44线陶瓷小外形封装集成电路老化测试插座,其特征是:插座体和接触件是一个统一整体,接触件由中心对称的44线、1.27mm的镀金簧片纵向排列组成,分别安装于座的2排凹槽中内。
3. 根据权利1所述的44线陶瓷小外形封装集成电路老化测试插座,其特征是:插座的锁紧装置由座、钩组成,以翻盖式结构把接触件设计成自动扣紧锁式、零插拔力结构。
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