[实用新型]一种阵列基板光学检测模块

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种液晶显示阵列基板检测技术，特别涉及一种减少阵列基板光学检测不良的阵列基板光学检测模块。

背景技术

液晶显示技术近年来发展迅速，产业规模不断扩大，产品应用越来越广泛。液晶显示屏生产工艺复杂，生产成本高，是典型的资本、知识密集型企业，如何提高产品良率，以降低生产成本，成为所有生产企业的目标。因此，在产品生产过程中，及时进行检测，不仅可以避免不良品的流出，提升最终制品的品质，还可以通过及时发现不良，在后续工艺中进行修复，从而提高良率。

利用光学检测系统对阵列基板进行检测，是当前液晶显示屏生产企业广泛采用的一类重要技术。其基本原理是利用光学系统，对阵列基板上的像素区图样进行检测，并以检测模块所得到的信息与正常像素或周边像素进行对比，从而找出不良像素，为后续的修复工艺提供数据，以减少阵列基板上的不良数目，使其品质得到提升。

现有技术的检测系统简图如图1所示。参见图1，检测模块2内部主要包括一成像系统，主要结构如图2所示，其中包括线性光源21，聚焦系统22，感光系统23，线性光源21发出的光经待检测的阵列基板1反射，进入感光系统23成像，再利用与之连接的图像处理系统进行处理，将所得每个像素的图像与周围的若干像素进行对比，从而检出与周围像素图像不一致的异常像素。在检测过程中，检测模块相对于阵列基板沿图1中的箭头方向移动，逐步完成对整张基板的检测。

但是，由于是利用光学系统进行检测，并不能模拟液晶显示屏的工作状态，因此，其检出不良中，很大一部分并不会对该像素的显示功能产生明显影响，以降低最终制品的质量，也无需进行维修，如在搬运过程中落在基板上的漂浮型灰尘颗粒，这部分数据对后续修复工艺而言，加大了工作量，对改善产品品质作用不大。

实用新型内容

本实用新型的目的是针对现有技术的缺陷，提供一种阵列基板光学检测模块，通过利用洁净压缩气体，在对某一区域进行检测之前，将该区域表面的飘浮型灰尘颗粒吹走，以减少检测出的不良。

为了实现上述目的，本实用新型提供一种阵列基板光学检测模块，包括：一检测模块本体，其中所述检测模块本体的一边或多边设置有硬质管，硬质管中通有压缩气体，硬质管斜下方设置有压缩气体喷出口。

上述方案中，所述硬质管的材料为金属、高分子材料或陶瓷等硬质材料。所述硬质管在检测模块本体侧面的投影比检测模块侧面长度长0-10cm；所述硬质管长度方向与检测模块本体侧壁成0-60度角夹度。所述压缩气体喷出口为一狭长的开口槽。所述开口槽的开口宽度为0.1-0.5cm，长度比该硬质管总长短0-10cm。所述开口槽中压缩气体喷出的方向与阵列基板表面成0-90度夹角。

相对于现有技术，本实用新型利用检测模块本体上设置的压缩气体硬质管吹出洁净压缩气体，在检测模块对阵列基板上某一区域进行检测之前，将该区域表面的飘浮型灰尘颗粒吹走，减少了这部分不良的检测出，从而可以减少修复工艺中的工作量，在不降低产品品质的前提下，节约了设备和人力成本。

下面结合附图和具体实施例对本实用新型进行进一步更为详细地说明。

附图说明

图1是现有技术中的检测系统简图；

图2是现有技术的检测模块内部示意简图；

图3为本实用新型的检测系统简图；

图4为本实用新型检测模块俯视简图；

图5为本实用新型的压缩气体硬质管的剖面图。

图中标记：1、阵列基板；2、检测模块；21、线性光源；22、聚焦系统；23、感光系统；3、硬质管；4、硬质支架。

具体实施方式

本实用新型是在光学检测模块上添加通有洁净压缩气体的硬质细管，随着检测模块与阵列基板的相对运动，压缩气流能通过硬质管上的开口以一定角度喷射到阵列基板上，将漂浮型灰尘颗粒吹走，达到减少不良的目的。

图3为本实用新型具体实施例的检测系统简图。如图3所示，本实用新型的检测模块是在现有技术中的检测模块1上添加了硬质管3部件，图中硬质管3为金属、高分子材料或陶瓷等材质的细长管，数量为3根，分别设置在检测模块靠近阵列基板的下边上，每根硬质管3中通有洁净压缩气体，洁净压缩气体的成分可为空气、氮气等，压强高于外部气压1-100kPa。每一硬质管3通过一硬质支架4固定在检测模块1的侧壁上，其直径为0.5-5cm。

本具体实施列中的硬质管的数量可以根据实际吹进基板的效果进行增加或减少；此外，检测模块每边设置的硬质管数量也增加为多根。